[发明专利]一种屏蔽罩的平面度检测装置

说明书

本发明实施例提供了一种屏蔽罩的平面度检测装置，所述装置包括检测平台和转盘：所述转盘转动连接于所述检测平台，所述转盘的上表面与所述检测平台的上表面平齐，所述检测平台的上表面开设有PIN脚插孔和PIN脚插槽，所述转盘的上表面开设有PIN脚插槽，且所述PIN脚插孔的孔深和所述PIN脚插槽的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN脚的长度。应用本发明实施例，以实现大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。

技术领域

本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种屏蔽罩的平面度检测装置。

背景技术

目前，屏蔽罩已经广泛的使用在各种电子产品中，其主要应用于手机、GPS(GloblePositioning System，全球卫星定位系统)等领域。通常在电子元件外设一个屏蔽罩，作用就是屏蔽外接电磁波对内部电路的影响和内部产生的电磁波向外辐射。为了达到更好地屏蔽效果，对屏蔽罩的侧壁底面平整度要求较高，因此，对屏蔽罩的平面度进行检测是非常必要的。

当前对于有PIN脚的屏蔽罩，PIN脚的数量通常都在两个或者三个，其平面度的检测通常是用一块比屏蔽罩长宽大一些的平整的模具钢块，把屏蔽罩放在钢块上，在PIN脚对应的位置打点做标记，再用机械加工工艺在每个点上加工一个小孔，这样就能保证屏蔽罩的PIN脚都能落在对应的小孔里面，屏蔽罩就能很平整的放在钢块上面，然后用塞尺去测量屏蔽罩与钢块之间的间隙，从而测量出屏蔽罩的平面度。

但是现有的屏蔽罩平面度的检测工具一般都是根据屏蔽罩的PIN脚量身定做的，对于屏蔽罩上不同位置或者不同数量的PIN脚都需要重新定制一款平面度的检测工具，导致检测效率比较低，检测成本比较高。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种屏蔽罩的平面度检测装置，以实现大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。具体技术方案如下：

本发明实施例提供了一种屏蔽罩的平面度检测装置，包括检测平台和转盘：

所述转盘转动连接于所述检测平台，所述转盘的上表面与所述检测平台的上表面平齐，所述检测平台的上表面开设有PIN脚插孔和PIN脚插槽，所述转盘的上表面开设有PIN脚插槽，且所述PIN脚插孔的孔深和所述PIN脚插槽的槽深均大于所述屏蔽罩的PIN脚的长度。

可选的，所述转盘的所述PIN脚插槽具体为过所述转盘转动轴线的直线插槽。

可选的，所述检测平台的所述PIN脚插槽具体为直线插槽。

可选的，所述检测平台具有两个所述PIN脚插槽，两个所述PIN脚插槽相对于所述转盘的转动轴线对称设置。

可选的，所述检测平台具有若干个所述PIN脚插孔，若干个所述PIN脚插孔均分为两列并相对于所述转盘的转动轴线对称设置。

可选的，所述转盘包括同轴设置的圆盘和转轴，所述检测平台具有阶梯回转孔；

所述圆盘位于所述阶梯回转孔的大孔段并搭接于所述阶梯回转孔的轴肩，所述圆盘的上表面与所述检测平台的上表面平齐并开设有所述PIN脚插槽；

所述转轴转动插装于所述阶梯回转孔的小孔段。

可选的，所述的平面度检测装置还包括锁紧螺母，所述锁紧螺母与所述转轴由伸出于所述检测平台的伸出端螺纹连接。

本发明实施例提供的一种屏蔽罩的平面度检测装置，针对屏蔽罩上有两个或者三个PIN脚的情况，将其PIN脚分别插入PIN脚插孔和PIN脚插槽中，再使用塞尺测量该屏蔽罩的平面度，从而判断其平面度是否合格。通过该检测装置，可以实现大部分带有两个或者三个PIN脚的屏蔽罩通用的平面度检测，提高检测效率，节省检测成本。当然，实施本发明的任一产品或方法必不一定需要同时达到以上所述的所有优点。