[发明专利]基于动态视觉传感器芯片的光电式接近传感器及探测方法有效
申请号: | 201611240612.3 | 申请日: | 2016-12-29 |
公开(公告)号: | CN106597463B | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 胡燕翔 | 申请(专利权)人: | 天津师范大学 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/48 |
代理公司: | 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 | 代理人: | 李成运 |
地址: | 300384 *** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 动态 视觉 传感器 芯片 光电 接近 探测 方法 | ||
1.光电式接近传感器的探测方法,其特征在于,使用DVS传感器作为光电感应器件,对可控光源发出的光束经物体反射后产生的光强变化信息进行采样,根据光强变化的空间位置和时序分布特征计算物体间的距离;
具体步骤为:
(1)控制处理单元存储标准光源强度变化特征;按预设时长同步开启可控光源和DVS传感器;保存DVS的AE流;
(2)空间位置计算,获取最大三个可能的反射位置点P;
(3)按照最大可能点的位置,计算其周边预定义区域内的强度特征向量;
(4)比较最大可能点与光源的强度变化特征,如匹配,至步骤(6);
(5)选取下一个最大可能点,返回步骤(4);如果最大三个可能点均不匹配,返回步骤(2)或结束;
(6)计算距离并与临界值进行比较,若小于临界值则报警,否则返回步骤(2)或结束;
步骤(2)所述获取最大三个可能的反射位置点P的具体方法为:
(201)使用DVS进行一次采样;将此时段内所有“正”事件按照其位置集成为一幅图像M,所述图像M具有与DVS像素阵列相同的大小,初值为0;
(202)读入一个AE事件,若极性为负,丢弃;
(203)按此事件的地址(x,y):M(x,y)=M(x,y)+1;
(204)返回(202),直至全部事件处理结束;
(205)对集成图像M的中间若干行按列进行累加;得到一个长度为N的一维数组;所述中间若干行的行数取值小于集成图像M的总行数;
(206)选择此数组中的最大3个值作为候选点;
所述步骤(3)所述计算强度特征向量的具体方法为:
(301)使用DVS对发射光束经物体表面的反射光进行采样;若在提取光源标准强度变化模式时,则应在无干扰的条件下进行;
(302)建立光源的一维特征数组Fea,数组长度为k*ΔT*10,即每毫秒划分为10个时间段;
其中光源的开启时间为ΔT毫秒,K与使用的光源种类有关,可取k=2或3,k*ΔT即为DVS采样时间;
(303)统计每个时间段内AE的数量累计Sum0~ k*ΔT*10-1;
(304)对多次统计的结果进行算术平均消除噪声影响;
(305)使用相邻时间段事件和的变化率来作为强度变化特征;
步骤(6)所述计算距离的方法为:
其中,L为DVS与光源的中心距,θ为发射光束与DVS平面的夹角,H为目标距离,h为发生光束与DVS中垂线的交点高度,Hmin为最小可探测距离,D为反射位置点与DVS中垂线间的距离,γ为DVS的视场角;
P是反射位置点。
2.根据权利要求1所述的探测方法,其特征在于,步骤(4)所述匹配比较的具体方法为:设光源的标准强度变化特征为FEAstd,反射目标的强度变化特征为FEAtest,则可采取以下快速匹配方法:
(401)基于差值比例的特征差异,模式误差定义为各分项误差比例的平均值;
(402)基于变化趋势的特征差异;
;
(403)特征匹配
当任一特征差异小于预定义阈值时认为反射光由光源产生,即为反射位置点。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津师范大学,未经天津师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611240612.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:测距方法及测距装置
- 下一篇:基于沙姆定律的扫描光谱激光雷达