[发明专利]治具与测试系统以及藉助于该治具进行测试的方法在审

专利信息
申请号: 201611197388.4 申请日: 2016-12-22
公开(公告)号: CN107943624A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 刘启新;萧子森 申请(专利权)人: 智微科技股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G11C29/56
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 徐伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测试 系统 以及 进行 方法
【说明书】:

技术领域

发明系有关于电子装置的测试,尤指一种可应用于具有通用串行总线C型插座(Universal Serial Bus(USB)Type-C receptacle,可简称为“USB C型插座”)的电子装置的治具(test fixture)与测试系统以及藉助于该治具对电子装置进行测试的方法。

背景技术

于具有一USB C型插座的电子装置的出厂测试的过程中,操作人员需将电缆线的插头(plug)插入该USB C型插座,以针对该USB C型插座的某些端子进行测试。于完成第一次测试之后,操作人员需拔出该插头,然后将该插头翻面(例如从该插头的某一侧向上的状态改成这一侧向下的状态)、且再次将该插头插入该USB C型插座,以针对该USB C型插座的某些端子进行测试。于完成第二次测试之后,操作人员需拔出该插头。另外,针对下一个被测装置(device under test,DUT)诸如同型号的另一电子装置,操作人员可重复该些相同的动作。基于相关技术的测试架构,会产生某些问题。例如:操作人员需将该插头翻面,这可能造成操作人员忘记目前测试到哪一侧、或造成另一侧没有被测试到。又例如:长时间地多次插入与拔出该插头可能造成该插头接触不良,以致容易发生误判。因此,需要一种新颖的架构以及相关方法,来减少错误(例如漏测或误判)发生的机率并且提升测试效率。

发明内容

本发明的目的之一在于提供一种治具(test fixture)与测试系统以及藉助于该治具对一电子装置进行测试的方法,以解决上述问题。

本发明的另一目的在于提供一种治具与测试系统以及藉助于该治具对一电子装置进行测试的方法,以减少操作人员于整个测试过程中的繁琐动作、减少连接器损坏的机率、且缩短每一被测装置(device under test,DUT)的测试时间并且提升测试效率。

本发明的至少一实施例提供一种治具,其中该治具可应用于具有一通用串行总线C型插座(Universal Serial Bus(USB)Type-C receptacle,可简称为“USB C型插座”)的一电子装置。例如:该治具可包含可适配(adaptable)于该USB C型插座的一插头(plug),且另包含一切换电路与一控制电路。该插头可用来耦接该电子装置,其中该插头具有多个端子,分别位于该插头的一第一侧与一第二侧。另外,该切换电路可用来进行切换运作,以轮流致能(enable)该治具中的一第一组通信路径与一第二组通信路径,其中该第一组通信路径系耦接至该多个端子中的一第一组通信端子,而该第二组通信路径系耦接至该多个端子中的一第二组通信端子。此外,该控制电路可用来控制该切换电路的该些切换运作,以容许一测试系统中的一处理电路透过该第一组通信路径对该电子装置进行一第一组测试运作、且透过该第二组通信路径对该电子装置进行一第二组测试运作,其中该测试系统包含该治具。依据某些实施例,该测试系统可包含一部个人计算机(personal computer,PC),而该处理电路可包含该个人计算机的至少一处理器。另外,该治具可另包含:一第一通用串行总线连接器与一第二通用串行总线连接器,分别用来将该治具耦接至该个人计算机;其中该第一组通信路径系耦接于该第一组通信端子以及该第一通用串行总线连接器的端子之间,且该第二组通信路径系耦接于该第二组通信端子以及该第二通用串行总线连接器的端子之间。

本发明于提供上述治具的同时,亦对应地提供一种藉助于该治具对该电子装置进行测试的方法,其中该方法可应用于该处理电路。例如:该控制电路可透过至少一接口耦接至该个人计算机,以容许该处理电路利用该控制电路控制该切换电路的该些切换运作。该方法可包含下列步骤:利用该控制电路控制该些切换运作中的至少一切换运作,以致能该治具中的该第一组通信路径;透过该第一组通信路径对该电子装置进行该第一组测试运作;利用该控制电路控制该些切换运作中的至少一切换运作,以致能该治具中的该第二组通信路径;以及透过该第二组通信路径对该电子装置进行该第二组测试运作。

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