[发明专利]扫描仪出厂校正方法及系统在审
申请号: | 201611195975.X | 申请日: | 2016-12-22 |
公开(公告)号: | CN106851043A | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 刘彦伟;曹国全;殷海;钟德江 | 申请(专利权)人: | 深圳市安健科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N1/60 | 分类号: | H04N1/60;G06T5/00 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所44275 | 代理人: | 张明 |
地址: | 518000 广东省深圳市高新*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描仪 出厂 校正 方法 系统 | ||
1.一种扫描仪出厂校正方法,其特征在于,包括:
扫描测试胶片,得到测试胶片的电子图像;
读取所述电子图像上各色块的灰度值;
将读取的灰度值与理论的灰度值进行数据拟合,生成校准曲线;
利用所述校准曲线对后续扫描的图像进行校正。
2.根据权利要求1所述的扫描仪出厂校正方法,其特征在于,还包括:读取所述电子图像上各色块的像素点阵,将读取的像素点阵与理论的像素点阵进行对比,得到扫描速度优化参数,利用所述优化参数对扫描仪进行校正。
3.根据权利要求2所述的扫描仪出厂校正方法,其特征在于,扫描测试胶片之前还包括:用光密度计测量测试胶片各色块的透射密度,对所述透射密度进行理论计算,得到测试胶片各色块的理论的灰度值。
4.根据权利要求2所述的扫描仪出厂校正方法,其特征在于,扫描测试胶片之前还包括:用二次元机检测各色块的尺寸信息,对所述尺寸信息进行理论计算,得到测试胶片各色块的理论的像素点阵。
5.根据权利要求1至4任一项所述的扫描仪出厂校正方法,其特征在于,还包括:将所述校准曲线进行备份。
6.根据权利要求1至4任一项所述的扫描仪出厂校正方法,其特征在于,当所述测试胶片超过保存周期时,更换新的测试胶片,并重新测量和计算其理论的灰度值和像素点阵。
7.一种扫描仪出厂校正系统,其特征在于,包括:
扫描模块,用于扫描测试胶片,得到测试胶片的电子图像;
读取模块,用于读取电子图像上各色块的灰度值;
拟合模块,用于进行数据拟合,生产校准曲线;
校准模块,利用所述校准曲线对后续扫描的图像进行校准。
8.根据权利要求7所述的扫描仪出厂校正系统,其特征在于,还包括:
测量模块,用于测量测试胶片各色块的透射密度和尺寸信息;
计算模块,用于根据所述透射密度和尺寸信息计算测试胶片各色块的理论的灰度值和像素点阵。
9.根据权利要求7或8所述的扫描仪出厂校正系统,其特征在于,所述读取模块还用于读取电子图像上各色块的像素点阵。
10.根据权利要求9所述的扫描仪出厂校正系统,其特征在于,还包括对比模块,所述对比模快用于将读取的像素点阵与理论的像素点阵进行对比,得到扫描速度优化参数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市安健科技股份有限公司,未经深圳市安健科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611195975.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电连接器
- 下一篇:一种工业控制系统中工业控制协议的安全防护方法