[发明专利]检测复合结构中的材料变化的方法以及非破坏性检查方法

权利要求书

1.一种非破坏性检查方法，所述方法包括：

引导脉冲激光束(220)朝向包括多个层(204)的复合结构(202)，其中当所述脉冲激光束(220)的辐射由所述复合结构(202)吸收时，数个宽带超声信号(226)在所述复合结构(202)中被形成；

检测所述宽带超声信号(226)以形成数据(240)，其中所述数据(240)包括用于所述复合结构(202)的多个超声A-扫描(258、303)；

将移动窗口(312)施加至所述多个超声A-扫描(258、303)中的每个以形成加窗信号(316)；

针对所述多个超声A-扫描(258、303)中的每个确定在所述加窗信号(316)内的频率测量值(317)；

使用所述频率测量值(317)从所述多个超声A-扫描(258、303)中的每个的A-扫描光谱(259)中移除结构信号(305)的光谱分量(326)；以及

在移除所述结构信号(305)的所述光谱分量(326)之后，在所述多个超声A-扫描(258、303)中的每个的所述A-扫描光谱(259)上执行插值以形成插值的A-扫描光谱数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

对所述多个超声A-扫描(258、303)中的每个进行傅里叶变换，以形成所述多个超声A-扫描(258、303)中的每个的所述A-扫描光谱(259)；以及

在所述插值的A-扫描光谱数据上执行逆傅里叶变换以形成多个无结构超声A-扫描(306)。

3.根据权利要求2所述的方法，其进一步包括：

对由所述多个无结构超声A-扫描形成的无结构B-扫描图像(330)执行滤波操作。

4.根据权利要求3所述的方法，其中对所述无结构B-扫描图像执行滤波操作包括在所述无结构B-扫描图像上使用低通滤波器(308)。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述频率测量值(317)选自平均频率(318)或最大频率(320)。

6.根据权利要求5所述的方法，其中根据等式和针对所述A-扫描的N-点采样版本根据等式中的至少一个，使用超声A-扫描的加窗信号(316)的复解析表示的自相关函数来确定所述平均频率(318)，其中R(0)是在时间零处的复自相关函数的幅度，并且是在所述时间零处的所述复自相关函数的相位，并且在函数上面的圆点表示该函数的时间导数，其中R_N(1)是在样本点1处评估的N-点复自相关函数R_N，im是指所述N-点复自相关函数的虚部并且re是指所述N-点复自相关函数的实部。