[发明专利]电路装置、振荡器、电子设备以及移动体有效

专利信息
申请号: 201611167338.1 申请日: 2016-12-16
公开(公告)号: CN106953633B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 米泽岳美 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H03L7/093 分类号: H03L7/093;H03L7/099
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;邓毅
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电路 装置 振荡器 电子设备 以及 移动
【权利要求书】:

1.一种电路装置,其中,该电路装置包含:

振荡信号生成电路,其使用频率控制数据和振子生成振荡信号;

基准信号输入端子,其输入基准信号;

内部相位比较部,其进行基于所述振荡信号的输入信号、和经由所述基准信号输入端子输入的所述基准信号的相位比较;以及

处理部,其进行信号处理,

所述振荡信号生成电路在第1模式下,使用基于外部相位比较部的相位比较结果的所述频率控制数据,生成所述振荡信号,所述外部相位比较部进行所述基准信号和基于所述振荡信号的输入信号的相位比较,

所述振荡信号生成电路在第2模式下,使用基于所述内部相位比较部的相位比较结果的所述频率控制数据,生成所述振荡信号,

所述处理部在所述第1模式下,根据输入保持模式检测信号的输入端子的电压、或者经由数字接口部输入的保持模式检测信息,判断是否处于第1保持模式状态,所述第1保持模式状态是由所述基准信号的消失或者异常引起的所述外部相位比较部的保持模式。

2.根据权利要求1所述的电路装置,其中,

在所述第2模式下,根据经由所述基准信号输入端子输入的所述基准信号,判断是否处于第2保持模式状态,所述第2保持模式状态是由所述基准信号的消失或者异常引起的所述内部相位比较部的保持模式。

3.根据权利要求2所述的电路装置,其中,

该电路装置还包含检测电路,所述检测电路检测包含所述内部相位比较部的PLL电路的锁定状态,

所述处理部在所述第2模式下,根据经由所述基准信号输入端子输入的所述基准信号、和来自所述检测电路的PLL锁定检测信号,判断是否处于所述第2保持模式状态。

4.根据权利要求3所述的电路装置,其中,

所述处理部在判断为所述基准信号消失或者异常、并且所述PLL电路不是所述锁定状态的情况下,判断为处于所述第2保持模式状态。

5.根据权利要求2所述的电路装置,其中,

所述处理部在判断为处于所述第1保持模式状态或者所述第2保持模式状态的情况下,生成老化校正后的所述频率控制数据,并输出到所述振荡信号生成电路。

6.根据权利要求1所述的电路装置,其中,

该电路装置还包含数字接口部,

在所述第1模式下,基于所述外部相位比较部的相位比较结果的所述频率控制数据被输入到所述数字接口部,所述振荡信号生成电路根据输入到所述数字接口部的所述频率控制数据,生成所述振荡信号。

7.一种振荡器,其中,该振荡器包含:

权利要求1所述的电路装置;以及

所述振子。

8.一种电子设备,其特征在于,该电子设备包含权利要求1所述的电路装置。

9.一种移动体,其特征在于,该移动体包含权利要求1所述的电路装置。

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