[发明专利]自由曲面光学元件的在位检测装置及检测方法有效
| 申请号: | 201611152671.5 | 申请日: | 2016-12-14 |
| 公开(公告)号: | CN106802135B | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
| 发明(设计)人: | 铁贵鹏;彭小强;戴一帆;关朝亮;陈善勇;王贵林 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 厉田;张丽娟 |
| 地址: | 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 自由 曲面 光学 元件 在位 检测 装置 方法 | ||
1.一种自由曲面光学元件的在位检测装置,其特征在于,包括旋转主轴(2)、Z轴(7)、X轴(8)以及竖直布置于所述Z轴(7)上方的Y轴模块(1),所述旋转主轴(2)水平设置于X轴(8)的上方并与所述Z轴(7)平行,旋转主轴(2)上夹持有自由曲面光学元件(3),所述Y轴模块(1)包括滑块(11)和立柱(16),所述滑块(11)滑设于所述立柱(16)上,所述滑块(11)上设有用于对所述自由曲面光学元件(3)进行在位测量的位移传感器(5);所述Y轴模块(1)还包括驱动机构(17),所述驱动机构(17)与所述滑块(11)连接并驱动所述滑块(11)在所述立柱(16)上移动;
所述驱动机构(17)包括驱动电机(171)、上同步带轮(176)、下同步带轮(178)以及用于连接所述上同步带轮(176)和所述下同步带轮(178)的同步皮带(177),所述上同步带轮(176)与所述驱动电机(171)连接,所述同步皮带(177)上设有同步带连接板(170),所述同步带连接板(170)固定于所述滑块(11)上。
2.根据权利要求1所述的自由曲面光学元件的在位检测装置,其特征在于,所述滑块(11)在靠近自由曲面光学元件(3)方向处设有传感器安装板(12),所述位移传感器(5)通过所述传感器安装板(12)固定于所述滑块(11)上。
3.根据权利要求2所述的自由曲面光学元件的在位检测装置,其特征在于,
所述Z轴(7)上设有溜板(6),所述Y轴模块(1)底部设有用于调整Y轴模块(1)位置的调整楔块(15),所述调整楔块(15)位于溜板(6)上方。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的自由曲面光学元件的在位检测装置,其特征在于,
所述Y轴模块(1)还包括底板(18)和竖直安装于底板(18)上的驱动安装板(14),所述驱动安装板(14)还设有上固定座(141)和下固定座(143),所述驱动机构(17)的上同步带轮(176)和下同步带轮(178)分别通过上固定座(141)和下固定座(143)与驱动安装板(14)连接。
5.一种根据权利要求1至4中任一项自由曲面光学元件的在位检测装置的在位检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、通过调整调整楔块(15)将Y轴模块(1)调整至与机床原有直线轴X轴(8)、Z轴(7)正交;
S2、确定合适的扫描路径进行自由曲面轮廓扫描,同时锁存各轴的坐标及对应的位移传感器(5)读数,得到自由曲面光学元件(3)表面的点云数据;
S3、将测得的点云数据与自由曲面光学元件(3)的理想轮廓形状进行匹配,得到自由曲面光学元件(3)的在位测量误差;
所述步骤S2的具体步骤为:
根据自由曲面光学元件(3)表面理想形状确定合适的扫描路径和采样频率,编制扫描程序,控制机床X轴(8)、Z轴(7)、旋转主轴(2)和Y轴模块(1)的运动进行自由曲面轮廓扫描,同时锁存各轴的坐标及对应的位移传感器(5)读数,得到自由曲面光学元件(3)表面的点云数据。
6.根据权利要求5所述的在位检测方法,其特征在于,
所述步骤S2中所述合适的扫描路径为以下选项的一种:
1)根据X轴、Y轴、Z轴三直线轴形成的空间栅格扫描路径;
2)根据任意两直线轴与C轴形成的径向放射线扫描路径;
3)C轴持续转动形成的螺旋扫描路径。
7.根据权利要求6所述的在位检测方法,其特征在于,所述空间栅格扫描路径中,选取X轴、Y轴、Z轴三直线轴中精度最低的直线轴为栅格换行轴,其余两直线轴为轮廓扫描轴。
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