[发明专利]开关装置的温度传感器的故障诊断方法和系统

权利要求书

1.一种开关装置的温度传感器的故障诊断方法，其包括：

使用由开关装置的温度传感器检测的温度和用于冷却开关装置的冷却水的温度，通过控制器来设定采样周期；

在采样周期中，通过控制器将通过温度传感器检测的温度感测值与存储在控制器的存储器中的温度参考值进行比较，并且确定在温度传感器中是否发生故障；

其中，设定采样周期包括：

通过控制器将由温度传感器检测到的温度升高、同时冷却水的温度随着时间经过保持恒定的时间段设定为采样周期。

2.根据权利要求1所述的开关装置的温度传感器的故障诊断方法，其中：

开关装置配置为调节驱动电机所需的电流；

设定采样周期包括：在开关装置将电机从停止状态切换为驱动状态的工作期间，将由温度传感器检测到的温度升高、同时冷却水的温度随着时间经过保持恒定的时间段设置为采样周期。

3.根据权利要求2所述的开关装置的温度传感器的故障诊断方法，其中：

控制器配置为当电机从停止状态切换到驱动状态时，操作开关装置以输出比所需电流更大的电流量；

采样周期从开关装置输出所需电流的时间点开始。

4.根据权利要求1所述的开关装置的温度传感器的故障诊断方法，其中，确定是否发生故障包括：

通过控制器，在采样周期中以预设的参考时间间隔比较温度感测值和温度参考值；

通过控制器确定温度传感器中是否发生故障。

5.根据权利要求4所述的开关装置的温度传感器的故障诊断方法，其中，温度参考值是基于吸收到开关装置中的热量的量和传递到冷却水的热量的量来确定的。

6.根据权利要求4所述的开关装置的温度传感器的故障诊断方法，其中，温度参考值根据如下等式来确定：

T₁(t)＝(T₁(0)-T₂(0)-c×m×R_th)×exp(-t/(c×m×R_th))+T₂(0)+c×m×R_th

其中，T₁(t)：在采样周期中经过时间t后的温度参考值，T₁(0)：采样周期中的初始温度感测值，T₂(0)：采样周期中的冷却水的初始温度，c：开关装置的比热，m：开关装置的质量，R_th：合成热电阻。

7.根据权利要求4所述的开关装置的温度传感器的故障诊断方法，其中，控制器配置为当在采样周期中经过参考时间之后的温度感测值和温度参考值之间的差小于预设的误差范围时，确定温度传感器正常，而当在经过参考时间之后的温度感测值和温度参考值之间的差等于或大于误差范围时，确定温度传感器中发生故障。

8.根据权利要求7所述的开关装置的温度传感器的故障诊断方法，进一步包括：

通过控制器将在采样周期中温度传感器发生故障的时间存储在存储器中；

当在采样周期中不定期地分布存储在存储器中的时间时，通过控制器将温度传感器的故障原因分析为接触不良。

9.根据权利要求7所述的开关装置的温度传感器的故障诊断方法，进一步包括：

在采样周期中温度传感器中发生故障时，将温度感测值存储在存储器中；

当存储在存储器中的温度感测值相同时，通过控制器将温度传感器的故障原因分析为短路。