[发明专利]基于仿真数据相关性的集成电路参数成品率快速分析方法

权利要求书

1.一种基于仿真数据相关性的集成电路参数成品率快速分析方法，其特征在于，其包括，在集成电路的设计和验证阶段，利用由工艺参数波动导致的性能波动在不同工作条件下的相关性，基于部分电路样品的仿真结果建立的相关性模型，根据给定的设计需求和部分仿真结果对后续电路样品的合格概率进行估计，并据此结果与电路仿真次序上的依赖关系和仿真成本对其后的电路仿真任务进行动态调度，达到准确估计参数成品率的同时节省电路仿真成本；

所述的工作条件包括：温度、电源电压和电路负载；

所述的分析方法其包括步骤：

步骤1，相关性建模：输入电路网表和各电路样品的工艺参数，对部分电路样品进行完整的电路仿真，根据得到的仿真数据建立一个以多元正态分布刻画的相关性模型；

步骤2，电路仿真任务的动态调度，包括：

步骤2a，根据步骤1得到的相关性模型，基于后续样品的部分仿真数据，根据多元正态分布的条件分布和电路的设计需求估计各电路样品合格的概率，并由此计算当前的成品率估计值和误差；

步骤2b，停止条件判断：如果参数成品率估计值的误差小于给定值，则跳转到步骤3，否则跳转到步骤2c；

步骤2c，根据步骤1得到的相关性模型、步骤2a得到的各样品合格概率、各样本已进行的仿真、各仿真任务在次序上的依赖关系，计算各仿真任务序列的信息增益；

步骤2d，执行步骤2c中信息增益最大的仿真任务序列，并跳转到步骤2a；

步骤3，输出成品率估计值。

2.根据权利要求1所述的基于仿真数据相关性的集成电路参数成品率快速分析方法，其特征在于，所述方法中，建立电路性能波动在不同工作条件下的相关性模型，将电路由于工艺参数波动导致的性能波动在不同工作条件下的相关性用一个多元正态分布进行刻画。

3.根据权利要求1所述的基于仿真数据相关性的集成电路参数成品率快速分析方法，其特征在于，所述方法中，在电路仿真的过程中，根据相关性模型和已有的部分仿真结果，动态调整尚未进行的仿真任务的次序，使得每次仿真都能在单位时间内对参数成品率的分析提供最多的信息量，通过将重要的仿真任务提前执行，并在成品率估计值满足误差要求时即停止仿真的方式降低仿真成本。