[发明专利]一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法有效
申请号: | 201611124203.7 | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN106738393B | 公开(公告)日: | 2018-05-22 |
发明(设计)人: | 高飞;李晖;张弛;徐世海;王磊;王添依;张海磊;张颖武;司华青 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
主分类号: | B28D5/04 | 分类号: | B28D5/04;B28D7/04;B24B1/00 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 胡京生 |
地址: | 300220*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采用 电火花 切割 技术 快速 cds 单晶体 方法 | ||
本发明设计一种用于CdS单晶体的切割方法,属于半导体材料的加工领域。步骤如下,用平面磨床将CdS晶锭的生长面磨平;用X射线衍射仪对磨平的端面进行定向;对CdS晶锭进行滚圆,然后进行主参考面和副参考面制作;用真空吸附台将CdS晶锭吸附住,晶锭的主参考面朝下;调整电火花切割机切割参数,对晶锭进行切割;切割完成后,依次采用煤油浸泡、热酒精对切割后的晶片进行冲洗,然后将卡具放在温度为80℃的热水中,使胶软化,将晶片取下,进行下一步操作。采用非接触式的电火花切割技术对n型CdS晶锭进行切割,可以大大的提高切割效率、减少碎片的产生。
技术领域
本发明设计一种用于CdS单晶体的切割方法,属于半导体材料的加工领域。
背景技术
硫化镉(CdS)晶体是带宽为2.4eV的直接跃迁型Ⅱ一VI族化合物半导体材料。CdS单晶的优异光电性质使其在探测器、太阳能电池,红外视窗等半导体器件制备上具有广泛的应用。
CdS晶体的加工包括定向、滚圆、切割、研磨、抛光、清洗等工艺,在后续的研磨、抛光工序之前,需要先将晶锭切割成表面平整、厚度均一的切割片,切割工艺的好坏直接影响后续的加工工艺。由于CdS晶锭的厚度较小(通常小于1 cm),常采用单线切割工艺对其进行切割。在单线切割工艺中,采用的切割线为金刚线,依靠金刚线和CdS晶体间的剧烈摩擦,使材料破裂并从母体表面脱落下来,从而达到切割的效果。由于CdS晶体的硬度小(莫氏硬度仅为3.3)、脆性大,在单线切割过程中,极易出现碎片现象,导致单线切割成品率过低;此外,采用传统单线切割工艺时,晶体的定向是通过以下步骤来完成:将晶锭固定在切割机样品台上,先从晶锭上切割下一小片并对切割片进行定向,根据晶向偏移量来调整样品台的角度,在这个过程中定向、样品台角度调节以及切割误差,使得传统的单线切割片晶向精度不高(偏差往往为0.3°~0.5°);再者,采用传统的单线切割方法对CdS晶锭进行切割时,晶锭的滚圆操作过程会比较繁琐,若操作不当会使切割片为椭圆形。
发明内容
鉴于现有技术的状况及不足,本发明针对低阻n型CdS单晶晶体的切割,提供了一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法,电火花切割技术,是依靠电能和热能进行材料去除,是一种非接触性的切割方法,此方法既可以大大降低碎片的风险,同时也可以大大提高加工效率。
本发明为实现上述目的,所采用的技术方案是:一种采用电火花切割技术快速切割CdS单晶体的方法,其特征在于:步骤如下,
第一步,用高温蜡将CdS晶锭的剥离面粘贴在一个总厚度变化小于5 μm的铸铁托上,用平面磨床将CdS晶锭的生长面磨平;
第二步,用X射线衍射仪对磨平的端面进行定向,根据晶向偏离(0001)的偏移量进行调整,对生长面再次进行平面磨,直到该端面偏离正晶向的角度小于0.5°;
第三步,将CdS晶锭从铸铁托上取下,用高温蜡将已磨平的生长面贴在铸铁托上,用平面磨床将晶锭的剥离面磨平,然后将铸铁托装卡到滚圆磨床的样品台上,先对CdS晶锭进行滚圆,然后进行主参考面和副参考面制作;
第四步,滚圆和参考面制作完成之后,将CdS晶锭从铸铁托上取下,用酒精将CdS晶锭擦洗干净,然后用真空吸附台将CdS晶锭吸附住,晶锭的主参考面朝下,主参考面与卡具水平面留有一定间隙,可以放下一个石墨条,在石墨条上涂覆上一层厚度约为5mm的固体胶,将石墨条放到该间隙中,使CdS晶锭主参考面与固体胶接触,固定台子侧面的螺丝,使石墨条固定,静置使固体胶凝固,CdS晶锭就粘贴在石墨条上,这样切割后的晶片会靠胶的作用不会脱离石墨条,可以防止切完的晶片掉落,或者发生倾斜与其他晶片发生磕碰而出现碎片事故;调整电火花切割机切割参数,对晶锭进行切割,脉冲宽度为15-20,脉间倍数为6-10,功放为4-6,进给速度为0.8-2.8 mm/min;
第五步,切割完成后,依次采用煤油浸泡、热酒精对切割后的晶片进行冲洗,然后将卡具放在温度为80℃的热水中,使胶软化,将晶片取下,进行下一步操作。
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