[发明专利]一种基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法

权利要求书

1.一种基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法，其特征在于，该方法包含：

步骤1：构建三维几何模型，设置模型的材料属性；所述的三维几何模型为圆锥模型；所述的三维几何模型的材料为吸波材料，

步骤2：根据距离向分辨率设置雷达的扫描频率范围和频率间隔，根据方位向分辨率确定方位扫描范围和角度间隔，进行成像并计算所需带宽、方位扫描范围内的远区或近区的散射场；

步骤3：采用FBP算法对步骤2中所述的散射场进行数据处理，FBP算法精确计算每一个像素到每一个天线位置之间的距离，沿着每一个散射点轨迹进行时域的相干叠加，从而实现了高分辨率的成像，得到二维ISAR图像；

步骤4：根据所述的二维ISAR图像，分析爬行波的具体位置，并且进一步提取爬行波分量，当爬行波分量最小时所选材料的属性最优。

2.根据权利要求1所述的基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法，其特征在于，步骤2中所述的成像采用垂直极化成像。

3.根据权利要求2所述的基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法，其特征在于，步骤2中所述的扫描频率范围为2.5GHz～3.5GHz，频率间隔为50MHz。

4.根据权利要求2所述的基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法，其特征在于，步骤2中所述的方位扫描范围为-5°～5°，角度间隔为0.5°。

5.根据权利要求1所述的基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法，其特征在于，步骤2中所述的散射场的计算采用如下公式：

上述式中，c为光速，B为带宽，λ为波长，Δθ为张角，δ_r表示距离向分辨率，δ_c表示方位向分辨率。

6.根据权利要求1-5中任意一项所述的基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法，其特征在于，该吸波材料为电吸收吸波材料或磁吸收吸波材料。

7.根据权利要求6所述的基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法，其特征在于，所述的电吸收吸波材料包括导电炭黑或石墨。

8.根据权利要求6所述的基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法，其特征在于，所述的磁吸收吸波材料包括铁的化合物和混合物。

9.根据权利要求8所述的基于成像的吸波材料涂敷目标爬行波的分析方法，其特征在于，所述的铁的化合物和混合物为六角晶系铁氧体或羟基铁。