[发明专利]内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块及方法

说明书

本发明公开一种内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块及方法，通过芯片内置的量产测试模块，在量产测试模式下，使芯片模拟部分的测试和数字部分的测试分开。数字信号源的测试激励直接通过数据总线直接提供，使数字部分的测试激励不依赖于模拟部分，大大提高了测试效率。数字部分的测试激励，通过数据总线直接提供的优点有：(1)测试设备的通道数，不受限于测试设备的精准电源数量，可大大增加多芯片同测的数量。(2)测试激励由数据总线直接提供，不易受外界的干扰；(3)可省去模拟信号稳定与模数转换的时间，缩短测试时间。

〖技术领域〗

本发明涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块及方法。

〖背景技术〗

一款芯片的成本，影响着产品的竞争力，在芯片面积一定的情况下，我们要尽量降低测试成本。目前，降低芯片测试成本的方法有两种:一是降低每个芯片的测试时间；二是增加同时测试芯片的数量(可同时测试的芯片数量由测试设备的通道数决定)。即，测试的芯片数目越多、速度越快，测试成本就越低。

一款芯片的测试，往往涉及到模拟部分的测试和数字部分的测试两部分。模拟部分一般可以单独测试，但数字部分的测试往往依赖于模拟部分。特别是，内部带有模数转换接口的芯片，数字信号源是通过模数转换而来，我们需要外部加模拟量的激励，才能测试数字部分的功能。但是，这样测试芯片数字部分的缺点在于：(1)给被测芯片加模拟量的激励，要占用测试设备的精准电源；由于测试设备的精准电源数量有限，会限制可同时测试芯片的数量。(2)给被测芯片加模拟量的激励，易受外界的干扰；(3)模拟量的激励变化后，需要较长的稳定时间，以及模数转换也需要一定时间，导致测试时间很长。

〖发明内容〗

本发明旨在提供一种内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块及方法，模数转换功能可以单独测试，只需要加少量模拟量测试激励即可，测试结果可以通过量产测试信号送给测试机台。本发明由以下技术方案实现：

一种内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块，所述芯片包括模拟功能模块、数字功能模块及数据总线，模拟功能模块具有n个模拟量输入端及n个模数转换信号输出端，数字功能模块具有n个数模接口信号输入端及一个数字测试信号输出端，数据总线包括数据线和时钟信号线；其特征在于：所述量产测试模块集成于芯片内，包括寄存器控制单元、多通道数据选择器mux_sel及n个二通道数据选择器mux；寄存器控制单元接收数据总线的数据，产生使能信号cp_en、测试信号cp_test_1、……cp_test_n及选择信号cp_sel；各二通道数据选择器mux的一个输入端连接芯片模拟功能模块的相应模数转换信号输出端，另一个输入端连接寄存器控制单元的测试信号cp_test_1、……cp_test_n，控制端连接寄存器控制单元的使能信号cp_en，输出端连接芯片数字功能模块的相应数模接口信号输入端；多通道数据选择器mux_sel的输入端连接各二通道数据选择器mux的输出端及芯片数字功能模块的数字测试信号输出端，控制端连接寄存器控制单元的选择信号cp_sel，输出端作为量产测试信号输出端。

作为具体的技术方案，所述数据总线为I2C总线，包括数据线SDA和时钟信号线SCL。

一种内部带有模数转换接口芯片的量产测试方法，其特征在于：在所述芯片内部设置与芯片模拟功能模块、数字功能模块及数据总线配合的量产测试模块，并由该量产测试模块执行以下操作：

测试数字功能部分时，选择数据总线的数据作为测试信号，提供给芯片数字功能模块，再将数字功能模块反馈回来的数字测试信号作为量产测试信号，送给测试机台；

测试模数转换功能时，选择芯片模拟功能模块输出的模数转换信号作为测试信号，再选出要测试的其中一个模数转换信号作为量产测试信号，送给测试机台。