[发明专利]内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块及方法

权利要求书

1.一种内部带有模数转换接口芯片的量产测试模块，所述芯片包括模拟功能模块、数字功能模块及数据总线，模拟功能模块具有n个模拟量输入端及n个模数转换信号输出端，数字功能模块具有n个数模接口信号输入端及一个数字测试信号输出端，数据总线包括数据线和时钟信号线；其特征在于：所述量产测试模块集成于芯片内，包括寄存器控制单元、多通道数据选择器mux_sel及n个二通道数据选择器mux；寄存器控制单元接收数据总线的数据，产生使能信号cp_en、测试信号cp_test_1、……cp_test_n及选择信号cp_sel；各二通道数据选择器mux的一个输入端连接芯片模拟功能模块的相应模数转换信号输出端，另一个输入端连接寄存器控制单元的测试信号cp_test_1、…… cp_test_n，控制端连接寄存器控制单元的使能信号cp_en，输出端连接芯片数字功能模块的相应数模接口信号输入端；多通道数据选择器mux_sel的输入端连接各二通道数据选择器mux的输出端及芯片数字功能模块的数字测试信号输出端，控制端连接寄存器控制单元的选择信号cp_sel，输出端作为量产测试信号输出端。

2.根据权利要求1所述的量产测试模块，其特征在于，所述数据总线为I2C总线，包括数据线SDA和时钟信号线SCL。

3.一种内部带有模数转换接口芯片的量产测试方法，其特征在于：在所述芯片内部设置与芯片模拟功能模块、数字功能模块及数据总线配合的量产测试模块，并由该量产测试模块执行以下操作：

测试数字功能部分时，选择数据总线的数据作为测试信号，提供给芯片数字功能模块，再将数字功能模块反馈回来的数字测试信号作为量产测试信号，送给测试机台；

测试模数转换功能时，选择芯片模拟功能模块输出的模数转换信号作为测试信号，再选出要测试的其中一个模数转换信号作为量产测试信号，送给测试机台；

所述量产测试模块包括寄存器控制单元、多通道数据选择器mux_sel及n个二通道数据选择器mux；寄存器控制单元接收数据总线的数据，产生使能信号cp_en、测试信号cp_test_1、……cp_test_n及选择信号cp_sel；各二通道数据选择器mux的一个输入端连接芯片模拟功能模块的相应模数转换信号输出端，另一个输入端连接寄存器控制单元的测试信号cp_test_1、…… cp_test_n，控制端连接寄存器控制单元的使能信号cp_en，输出端连接芯片数字功能模块的相应数模接口信号输入端；多通道数据选择器mux_sel的输入端连接各二通道数据选择器mux的输出端及芯片数字功能模块的数字测试信号输出端，控制端连接寄存器控制单元的选择信号cp_sel，输出端作为量产测试信号输出端。

4.根据权利要求3所述的量产测试方法，其特征在于，所述各二通道数据选择器mux受使能信号cp_en的控制，当cp_en = 0时，选择相应的模数转换信号；当cp_en = 1时，选择寄存器控制单元产生的相应测试信号cp_test。

5.根据权利要求4所述的量产测试方法，其特征在于，所述多通道数据选择器mux_sel，受选择信号cp_sel的控制,选择一个信号通路作为量产测试信号。