[发明专利]太赫兹频段功率放大芯片在片功率测试系统及测试方法

说明书

本发明提出的是一种太赫兹（THz）频段功率放大芯片在片功率测试系统，其结构包括处理器、探针台、信号源、扩频模块、功率计、电源、左S弯及波导探针、右S弯及波导探针、直流探卡。其测试方法，包括：1）建立信号源输出功率与扩频模块输出功率之间对应关系；2）原有系统基础上连接左、右S弯及波导探针；3）测试在片系统损耗；4）采集数据；5）处理器计算出待测太赫兹频段功率放大芯片的输入功率、输出功率及增益；6）判定是否需要进行其它芯片的测试。优点：1）实现了THz功率放大芯片输出功率、增益的精确测试；2）实现了对于THz功率放大器的在片自动测试，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及一种太赫兹频段功率放大芯片在片功率测试系统及测试方法，所述的方法适用于太赫兹频段的功率放大芯片的相关测试，属于微波通信中的芯片测试领域。

背景技术

太赫兹（THz）波指频率在100GHz-10THz范围的电磁波，介于微波和光波之间，具有波长短、透过率高、带宽宽等特点，太赫兹频段在成像、频谱检测和高传输速率通信等方面具有广阔的应用前景，在雷达系统军事电子领域有重要的应用方向，如高精度雷达、反隐形雷达、保密通信和太赫兹成像探测等。

太赫兹功放芯片是支撑整个太赫兹固态系统的基石，是国内外太赫兹研究的基础和热点，THz频段功率放大芯片在片功率测试系统及测试方法也是目前该领域的关键技术，同时由于该频段信号小，因此如何实现该频段功放芯片的精确测试是一个技术难点，本发明提出一种用于THz频段功率放大芯片在片功率测试系统及测试方法，实现该频段的在片测试效率提升，并确保测试精度。

发明内容

本发明提出的是一种太赫兹频段功率放大芯片在片功率测试系统及测试方法，其目的旨在避免装架测试效率低下的问题，同时实现THz波段功率放大芯片输出功率及增益等参量的测试，提高测试精度。

本发明的技术解决方案：一种太赫兹频段功率放大芯片在片功率测试系统，其结构包括处理器、探针台、信号源、扩频模块、功率计、电源、左S弯及波导探针、右S弯及波导探针，其中，处理器的第一信号输出/输入端与探针台的信号输入/输出端对应相接，处理器的第二信号输出/输入端与信号源的信号输入/输出端对应相接，处理器的第三信号输入端与功率计的信号输出端对应相接，处理器的第四信号与电源的输入输出端相连，同时电源的另外一个输出端接探卡的信号输入端，探卡的信号输出端接待测件(DUT)的信号输入端，信号源的信号输出端连接扩频模块输入端，扩频模块输出端连接左S弯及波导探针输入端，右S弯及波导探针输出端与功率计的输入端相接，左、右S弯及波导探针间连接待测件(DUT)。

其测试方法，包括如下步骤：

1）建立信号源输出功率与扩频模块输出功率之间对应关系；

2）在步骤1)的基础上连接左S弯及波导探针和右S弯及波导探针；

3）测试在片系统损耗；

4）采集数据；

5）处理器计算出待测太赫兹频段功率放大芯片的输入功率、输出功率及增益；

6）判定是否需要进行其它芯片的测试。

本发明的优点：

1）通过分别建立信号源与扩频模块输出功率及信号源与待测件输出功率的关系，从而计算得到THz功率放大芯片各频点输入输出间的对应关系，解决了现有该频段测试仪器输出功率小，扩频模块输出功率线形度差造成的测试精度下降的问题，实现了THz功率放大芯片输出功率、增益等关键指标的精确测试；

2）实现了对于THz功率放大器的在片自动测试，提高了测试效率。

附图说明

图1建立信号源输出功率与扩频模块输出功率之间对应关系的系统框图。