[发明专利]一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法

权利要求书

1.一种适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

1)待检工件和对比试块放置在检测水槽中；

对比试块底部加工平底孔，尺寸为φ1.5～2mm，底面位于铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面；

2)配置探头，使探头到对比试块和工件表面的距离均为20～22mm，探头聚焦点位于铍-铜铬锆热等静压扩散连接界面上；

3)调节探头角度，超声波入射方向与工件表面垂直；

4)设置探伤仪的扫查参数；

采样频率80～100MHz，脉冲宽度45～50ns，增益29.9～32db+∑2～3db；

5)在界面回波区域正半轴和负半轴分别添加一个检测门限gate1和gate2，别记录正半轴和负半轴所检测到第一个回波信号的时间延迟t1和t2，gate1和gate2的幅值为满屏的10％～15％；

6)点界面位置缺陷判别

令△t＝t1-t2，当△t＞0时，显示为绿色，表示该点界面位置结合情况良好；当△t＜0，显示为红色，表示该点界面位置存在缺陷；

7)按照扫查路径扫查，记录对比试块和待测工件A扫查、B扫查、C扫查图像，利用扫查图像进行人工缺陷无损探伤判定。

2.如权利要求1所述的适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法，其特征在于：

还包括步骤8)检查对比试块C的扫查图像，确定φ1.5～φ2mm的平底孔人工缺陷是否被检出，即是否显示为红色，若显示为红色，证明可以正常检测待测工件；

步骤9)检查待检工件C的扫查图像是否有人工缺陷，即是否出现红色区域，若检测出人工缺陷，再检查回波是否正常，是否存在回波相位相反的现象，排除干扰波的影响，若无干扰波影响且存在回波相位相反的情况，则说明此红色区域界面存在缺陷或者没有结合。

3.如权利要求1所述的适用于铍-铜铬锆连接界面的超声相位无损探伤方法，其特征在于：所述的步骤2)探头的频率5～10MHz，晶片数位64～128，晶片宽度0.4～0.45mm，晶片间距0.03～0.05mm，聚焦方式为线聚焦。