[发明专利]一种光谱测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201611029525.3 申请日: 2016-11-14
公开(公告)号: CN106501189B 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: 张林;张尚;周强;董宇涵 申请(专利权)人: 清华-伯克利深圳学院筹备办公室
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆;胡彬
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光谱信号 光谱测量 检测数据 滤波片 阵列式 光谱测量装置 微型化 阵列式分布 待测样品 光谱特性 光谱信息 信号重建 重建结果 重建算法 分辨率 涂覆 稀疏 相异 测量 观测 携带 检测
【权利要求书】:

1.一种光谱测量方法,其特征在于,包括:

对待测光谱信号经过阵列式滤波片后形成的观测光谱信号进行检测,获取检测数据,其中,待测光谱信号携带待测样品的光谱信息,所述阵列式滤波片上涂覆多种呈阵列式分布且光谱特性相异的物质;

基于稀疏重建算法以及所述检测数据进行信号重建,获取重建结果;

其中,所述基于稀疏重建算法以及所述检测数据进行信号重建,获取重建结果,包括:

采用所述阵列式滤波片上的每种物质离散化的光谱信号作为行向量构造观测矩阵Φ;

通过如下公式中的任意一种获取重建结果:

且满足约束条件:Φx=y;

且满足约束条件:Φx=y;

且满足约束条件:

且满足约束条件:||x||1≤t1;以及

其中,y为检测数据形成的列向量,且y=[y1,y2,...,yi,...,yn]T,yi为经过所述阵列式滤波片上的第i种物质后形成的观测光谱信号的检测数据,n为所述阵列滤波片上涂覆物质的种类数量;x为离散化后的待测光谱信号形成的列向量,且为待测光谱信号在波长λi处的光谱值,m为所述观测矩阵的列数,且m的数值取决于对所述待测光谱信号的采样间隔;Φ∈Rn×m,为阵列式滤波片上的第i种物质的光谱信号在波长λj处的光谱值;ε1为第一重建误差预设值;t1为表征x稀疏程度的预设值;τ1为第一权重预设值;

或者,所述基于稀疏重建算法以及所述检测数据进行信号重建,获取重建结果,包括:

采用所述阵列式滤波片上的每种物质离散化后的光谱信号作为行向量构造观测矩阵Φ;

利用字典学习算法对预设数量的标准光谱信号进行训练,获取稀疏字典Ψ;

通过如下公式中的任意一种获取稀疏表示系数s:

且满足约束条件:ΦΨs=y;

且满足约束条件:ΦΨs=y;

且满足约束条件:

且满足约束条件:||s||1≤t2;以及

通过公式获取重建结果,为待测光谱信号的离散重建结果;

其中,y为检测数据形成的列向量,且y=[y1,y2,...,yi,...,yn]T,yi为经过所述阵列式滤波片上的第i种物质后形成的观测光谱信号的检测数据,n为所述阵列滤波片上涂覆物质的种类数量;Φ∈Rn×m,为阵列式滤波片上的第i种物质光谱信号在波长λj处的光谱值;m为所述观测矩阵的列数,且m的数值取决于对所述待测光谱信号的采样间隔;ε2为第二重建误差预设值;t2为表征s稀疏程度的预设值;τ2为第二权重预设值。

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