[发明专利]产品自我检测的方法在审

专利信息
申请号: 201611011838.6 申请日: 2016-11-15
公开(公告)号: CN108072824A 公开(公告)日: 2018-05-25
发明(设计)人: 杨崇豪 申请(专利权)人: 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海宏威知识产权代理有限公司 31250 代理人: 袁辉
地址: 201114 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 被测产品 探针 治具 电压回馈信号 自我检测 引脚 读取 测试程序 电压信号 测试点 复数 输出
【说明书】:

发明公开了一种产品自我检测的方法,包含有下列步骤,提供一被测产品以及一探针治具,利用探针治具将被测产品的复数个测试点连接,启动被测产品并执行一测试程序,经由被测产品的至少一引脚输出一电压信号,经由探针治具,被测产品由至少另一引脚读取一电压回馈信号,以及判断电压回馈信号是否正常。

技术领域

本发明涉及一种产品自我检测的方法。更具体的说,是一种利用探针治具以实现产品自我检测的方法。

背景技术

电子装置的体积日益轻薄短小,且具有愈来愈强大的资料处理及通讯能力。因此,各类型的电子装置应用在人们的日常生活中,也成为人们的日常生活中成为不可或缺的一部份。

一般而言,电子装置在制造过程中,无可避免的存在着有许多外在因素会影响生产中的产品的品质,例如元件的损坏、缺件、线路短路、线路开路、零件不良等。因此,为了有效地对电子装置的出货品质进行控管,电子装置生产的过程中,通常必须加以检查,以降低后续产生不良品的比率与数量。

然而,当电子装置的主板的功能变得越来越复杂,如何能有效地测试主板变得越来越重要。在产品生产的初期,若能准确且彻底的进行测试,不仅可以降低组装产品的成本且亦能确保产品的品质。

因此,倘若在电子装置的主板完成的阶段,即可提早剔除不良的主板,不仅可以有效地避免后续昂贵的维修制程与费用,同时也可以提高后续成品的良率。

发明内容

有鉴于此,本发明公开了一种产品自我检测的方法,可以降低产品的测试成本,减少测试人力的需求,同时降低产品维修的成本。

根据本发明所公开的一种产品自我检测的方法,首先提供一被测产品以及一探针治具,利用探针治具将被测产品的复数个测试点连接,启动被测产品并执行一测试程序,经由被测产品的至少一引脚输出一电压信号,经由探针治具,被测产品由至少另一引脚读取一电压回馈信号,以及判断电压回馈信号是否正常。然后,将判断电压回馈信号是否正常的结果纪录于被测试产品之中,例如是纪录于一非挥发性记忆体之中。

进一步的,被测产品是一电脑主板。

进一步的,被测产品是一手机主板。

进一步的,输出引脚连接一发光二极体,输入引脚则利用探针治具读取电压回馈信号。

进一步的,发光二极体是一电源指示发光二极体。

进一步的,发光二极体是一闪光灯发光二极体。

进一步的,上述产品自我检测的方法更可以进一步测试一震动器或模拟一电源开关的信号。

此外,复数个输出引脚亦可利用分时输出电压信号,经由探针治具,单一输入引脚可分时读取电压回馈信号,反之亦然。

综上所述,本发明所公开的的产品自我检测的方法,可以藉由探针治具连接一被测产品的测试点,以进行晶片组的GPIO引脚的测试,不仅可以利用被测产品本身的测试程序进行自主式的测试,且由于输出输入均是被测产品的GPIO引脚,故可利用机台自动化进行测试,无须提供另外的测试电脑,大幅降低测试所需的设备费用,且减少人力的需求。此外,由于利用探针治具才可连接相应的测试点,故消费者无法使用相同的测试,不会造成使用上的困扰。当被测产品完成自主式的测试后,可将测试结果储存于本身的记忆体中,后续制程,例如维修制程,亦可以直接读取相关数据,并进行维修,可进一步有效地减少所需的维修时间与费用。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附图式的说明如下:

图1是依照本发明一实施例所绘示的一种产品自我检测的电路连接示意图。

图2是依照本发明一实施例所绘示的一种产品自我检测的方法示意图。

附图符号说明:

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