[发明专利]一种触摸屏导电膜及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及触摸屏导电膜领域，具体涉及一种触摸屏导电膜及触摸屏导电膜的测试方法。

背景技术

在导电膜的制作过程中，不同阶段都会进行产品的功能测试，保证良率和降低后续材料的浪费，应用于触摸屏领域的导电膜的测试通常是测试每一个通路的两端或一端，如果为一端测试通常是测试需要绑定柔性电路板的那端，采用的测试工具多为万用表或者探针，而且需要接触式测试，会对产品表面的导电材料造成一定程度的破坏或脱落，测试之后会对导电膜的外观及稳定性造成不良，测试之后再进行绑定柔性电路板会出现功能不良。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种触摸屏导电膜及触摸屏导电膜的测试方法，触摸屏包括导电膜和测试引脚，测试引脚电连接有向外延伸的测试导线，测试导线具备导电性能。在设计上将需要测试的一端延伸出来，这样既保证了电性可以准确测试，也避免了绑定位置的破坏，将测试造成的不良降低为零。

进一步的，上述测试导线的宽度与所述测试引脚的宽度关系为：0.5w1＜w2≤w1，其中w1为所述测试引脚的宽度，w2为所述测试导线的宽度。

进一步的，上述测试导线为网格结构或实心结构。

进一步的，上述测试导线的自由端还连接有测试块。

进一步的，上述测试块为网格结构或实心结构。

进一步的，上述测试块网格线的间距不小于2um且不大于15um。

进一步的，上述多个测试块单排排列或多排排列。

本发明还提供了这种触摸屏导电膜的测试方法，其包括以下步骤：

1)从导电膜的测试引脚开始电连接向外延伸的测试导线；

2)测试设备连接测试导线进行对导电膜的测试；

3)完成测试后分离测试导线。

进一步的，上述测试导线为网格结构或实心结构。

进一步的，上述测试导线的自由端还连接有测试块；优选的，测试块为网格结构或实心结构。

本发明主要具有如下优点：

1)避免了制程过程中测试导致的测试位置的破坏，进一步降低柔性电路板的绑定良率；

2)可以变换测试位置，将两头或多头的测试位置引到同一个地方，测试结构更加紧凑化，从而测试治具可以共用，节省成本；

3)引伸的测试块更大，更容易测试，设置标注，利于作业不良的查找。

附图说明

图1为本发明中的触摸屏导电膜的结构示意图。

图2为图1所示触摸屏导电膜的局部结构放大示意图。

图3为本发明中的测试导线和测试块的一种网格结构示意图。

图4为本发明中的测试块的多个可选位置的示意图。

图（5a）、（5b）为本发明中的测试块的另一种排列示意图。

图6为本发明中的测试块的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图详细说明本发明的优选实施方式。

本实施例主要描述了一种触摸屏导电膜及触摸屏导电膜的测试方法。在导电膜设计基础上增加附属的设计，该设计主要是将产品测试的地方引伸出来，该测试的地方不影响整个产品的功能，但是可以替代本身的测试位置完成电性的测试；完成测试功能之后分离，并不影响产品的整体外观。

如图1所示，在本实施例中，一种触摸屏导电膜，包括导电膜和测试引脚，测试引脚电连接有向外延伸的测试导线，测试导线具备导电性能，测试导线为网格结构或实心结构，测试导线的自由端还连接有测试块；优选的，测试块为网格结构或实心结构。作为本发明的优选实施方式，导电膜的测试引脚、测试导线、测试块一体成型结构。

这种触摸屏导电膜的测试方法如下：首先从导电膜的测试引脚开始电连接向外延伸的测试导线；其次使用测试设备连接测试导线进行对导电膜的测试；最后完成测试后分离测试导线。

在本发明的实施中，延伸测试模块101包括测试导线和测试块，以线的方式实现与导电膜的测试引脚的连接功能，，可以是直线，曲线，并通过丝网印刷导电油墨或者网格凹槽填充导电材料的方式实现导电功能。导电材料可以是银，铜，镍等。测试导线的一头连接导电膜的测试引脚，测试导线的另一头即自由端是测试块。测试完成后，需要将延伸测试模块与导电膜的测试引脚分离，这种分离方式可以为模切、剪切、裁切等，优选的采用模切的方式切除；分离后的导电膜的测试引脚与产品(如导电膜)的轮廓线401平齐，且各根导电膜的测试引脚长度相同。

在本发明的实施中，，导电膜引脚上可能还有少部分分离后残余的测试导线，且测试导线的存在不影响导电膜的正常的性能。