[发明专利]读出错测试方法与装置

权利要求书

1.一种固态存储设备的测试方法，其特征在于，所述固态存储设备包括S+1个逻辑单元，所述S+1个逻辑单元提供多个页条带，页条带包括S+1个物理页，页条带中的S+1个物理页来自所述S+1个逻辑单元的每一个，每个物理页容纳一个逻辑页，所述方法包括以下步骤：

向连续的逻辑地址A到逻辑地址A+S写入数据，其中，数据被写入页条带0，以及页条带1的物理页0；其中，向连续的逻辑地址A到逻辑地址A+S写入数据还包括对校验数据的写入；

向连续的逻辑地址A+1到逻辑地址S+A+1写入数据，其中数据被写入页条带1，以及页条带2的物理页0与物理页1；其中，向连续的逻辑地址A+1到逻辑地址S+A+1写入数据还包括对校验数据的写入；擦除页条带0与页条带1所在的物理块；

向页条带0的物理页0与页条带1的物理页1写入存在不可纠正错误的数据；以及

从逻辑地址A与A+1读取数据；

其中S为正整数，A为非负整数；

响应于从逻辑地址A与A+1读取数据，根据从逻辑地址A与A+1读取的数据判断所述固态存储设备的数据保护机制是否正确。

2.根据权利要求1所述的固态存储设备的测试方法，其特征在于，其中，

所述向连续的逻辑地址A到逻辑地址A+S写入数据，包括将逻辑地址A到逻辑地址A+S连续地映射到页条带0的物理页0到物理页S-1，以及页条带1的物理页0；以及

所述向连续的逻辑地址A+1到逻辑地址A+S+1写入数据，包括将逻辑地址A+1到逻辑地址A+S+1连续地映射到页条带1的物理页1到物理页S-1，以及页条带2的物理页0与物理页1。

3.根据权利要求1所述的固态存储设备的测试方法，其特征在于，还包括：

在擦除页条带0与页条带1所在的物理块之前，多次向连续的逻辑地址A+i到逻辑地址A+S+i写入数据，并使i递增，以及i是大于1的整数；其中，数据被写入页条带i的物理页i至物理页(S-1)，以及页条带i+1的物理页0至物理页i；

所述方法还包括：

对于i的每个取值，擦除第i页条带所在的物理块，向第i页条带的物理页i写入存在不可纠正错误的数据；以及

从连续的逻辑地址A到A+i读取数据。

4.一种固态存储设备的测试方法，其特征在于，所述固态存储设备包括S+1个逻辑单元，所述S+1个逻辑单元提供多个页条带，页条带包括S+1个物理页，页条带中的S+1个物理页来自所述S+1个逻辑单元的每一个，每个物理页包括四个数据帧，每个数据帧容纳一个逻辑页，所述方法包括：

步骤S1：向连续的逻辑地址A+i-1到逻辑地址A+S-1+i写入数据，向连续的逻辑地址A+i到逻辑地址A+S+i写入数据2次，以及向连续的逻辑地址A+i到逻辑地址A+S-4+i写入数据，其中，数据被写入第i-1个页条带；所述向连续的逻辑地址A+i-1到逻辑地址A+S-1+i写入数据还包括对校验数据的写入，所述向连续的逻辑地址A+i到逻辑地址A+S+i写入数据2次还包括对校验数据的写入，向连续的逻辑地址A+i到逻辑地址A+S-4+i写入数据还包括对校验数据的写入；

设置i＝i+1，并重复步骤S1，直到i达到预定值T，T为大于1的整数；

对于i的每个取值，向页条带i-1的物理页0写入存在不可纠正错误的数据；以及

从逻辑地址A到A+T-1读取数据；

其中S为正整数，A为非负整数，以及i的初始值为1；

响应于从逻辑地址A到A+T-1读取数据，根据从逻辑地址A到A+T-1读取的数据判断所述固态存储设备的数据保护机制是否正确。