[发明专利]质量管理装置以及质量管理方法

权利要求书

1.一种质量管理装置，其特征在于，包括：

获取单元，其针对待管理的产品，获取基于发生周期的故障的发生率、所述产品的操作条件、以及所述产品的制造条件；以及

提取单元，其在所述操作条件下将所述发生率分层，并针对在所述操作条件下的各层，提取所述发生率和所述制造条件之间的关系。

2.根据权利要求1所述的质量管理装置，其中，

所述获取单元基于所述发生周期和故障类型获取所述故障的所述发生率，并且

所述提取单元在所述操作条件下将所述发生率分层，并针对在所述操作条件下的各层，提取基于所述故障类型的所述发生率和所述制造条件之间的关系。

3.根据权利要求1或2所述的质量管理装置，其中，

所述发生率是发生了所述故障的所述产品的数量与进行操作的所述产品的数量之间的比率。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的质量管理装置，其中，

针对在所述操作条件下的各层，所述提取单元提取所述发生率和如下比率之间的关系，所述比率为包括在预定制造条件下制造的部件的所述产品的数量与发生了所述故障的所述产品的数量之间的比率。

5.根据权利要求4所述的质量管理装置，其中，

所述操作条件是所述产品的操作时间，并且

所述提取单元将包括在所述操作条件下所述发生率大于或等于预定的阈值的期间的所述操作时间的某个范围分成与所述操作时间的其它范围相比各自具有更小范围的层。

6.根据权利要求4所述的质量管理装置，其中，

所述产品是车辆，

所述操作条件是所述车辆的里程，并且

所述提取单元将所述车辆的所述里程大于或等于预定的阈值的所述里程的某个范围分成与所述里程的其它范围相比各自具有更小范围的层。

7.根据权利要求4所述的质量管理装置，其中，

所述产品是电子装置，

所述操作条件是所述电子装置的操作时间，并且

所述提取单元将所述电子装置的所述操作时间大于或等于预定的阈值的所述操作时间的某个范围分成与所述操作时间的其它范围相比各自具有更小范围的层。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的质量管理装置，其中，

所述提取单元确定在所述操作条件下各层的所述范围从而使得在所述操作条件下的各层的所述发生率落入预定的范围。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的质量管理装置，其中，

所述提取单元在预定的时间内，在基于时序的所述发生率中的变化量变得大于或等于预定的第一阈值，并且在所述制造条件下的变化量变得大于或等于预定的第二阈值的情况下，提取所述制造条件作为与所述产品的所述故障相关的制造条件。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的质量管理装置，其中，

所述操作条件包括在所述产品的多种类型的操作条件中，并且

所述提取单元针对操作条件的各种类型在所述操作条件下将所述发生率分层，并且针对彼此不同且各自包括多种类型的操作条件的层的多个组合，所述提取单元针对每个所述组合提取所述故障的所述发生率和所述制造条件之间的关系。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的质量管理装置，其中，

所述制造条件包括构成所述产品的部件的制造条件、制造所述产品的公司、用于制造所述产品的生产线、以及制造所述产品的工人中的至少一个。

12.一种质量管理方法，其特征在于，包括以下步骤：

针对待管理的产品，获取基于发生周期的故障的发生率、所述产品的操作条件、以及所述产品的制造条件；以及

在所述操作条件下将所述发生率分层，并针对在所述操作条件下的各层，提取所述发生率和所述制造条件之间的关系。