[发明专利]一种液晶显示屏测试连接装置其制作方法在审

专利信息
申请号: 201610805200.3 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN107783324A 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 肖亮灿 申请(专利权)人: 天津盛诺电子科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 301700 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 液晶显示屏 测试 连接 装置 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶显示屏测试领域,特别涉及一种液晶显示屏测试连接装置其制作方法。

背景技术

目前点阵式液晶显示屏应用广泛,这种液晶显示屏电路高度密集,电路导线的最小间隔只有12微米,对ITO玻璃来料、制作过程环境中的灰尘颗粒、铬板的清洗、生产过程中的工艺控制要求严格,任一环节出现一点问题就会导致短断路缺陷。为测试上述短断路缺陷,现有一种探针卡测试仪器,在液晶显示屏制作完成后,将液晶显示屏放在探针卡测试仪器上,使探针卡测试仪器的探针与液晶显示屏上的IC邦定引线接触导通,通过测试电路驱动液晶显示屏显示全屏和/或部分测试画面,检测测试画面是否缺划或不正常显示,从而判断液晶显示屏是否有短断路缺陷。此检测方法方便且直观,多种液晶显示屏只需更换探针卡即可共用测试电路,缺点是探针卡制作成本高,制作难度大,且与液晶显示屏的IC邦定引线接触的定位难度较大。

发明内容

本发明还提供一种液晶显示屏测试连接装置制作方法,包括:印刷探头走线的步骤;布置至少一触点的步骤;和固定至少一触点,连接至少一触点与至少一探头走线的步骤。

优选地,印刷探头走线的步骤包括:根据待测液晶显示屏的至少一走线制作菲林的步骤;根据菲林,在基板上形成与至少一走线对应的探头走线的步骤。

优选地,布置至少一触点的步骤包括:根据菲林制作网版的步骤;根据网版在探头走线的局部涂覆胶水的步骤;在基板上洒布至少一触点,使至少一触点覆盖探头走线的步骤。

优选地,固定至少一触点,连接至少一触点与至少一探头走线的步骤包括:将至少一触点与局部涂覆胶水的探头走线压紧的步骤;使胶水固化,将至少一触点固定在探头走线上的步骤;清除未固定在探头走线上的至少一触点。

上述印刷探头走线的步骤还包括:根据待测液晶显示屏的至少一对位标,制作图形分别与至少一对位标对应的菲林的步骤;根据菲林,在基板上形成与至少一对位标对应的至少一测试对位标的步骤。

本发明提供的液晶显示屏测试连接装置及其制作方法发扬现有探针卡测试仪器检测方便直观、通用性强的优点,又解决了探针卡测试仪器制作成本高、难度大及定位难的缺点;操作简单、识别方便,便于生产工人使用;制作难度小,成本较低,尤其在液晶显示器制造工厂更为方便。

附图说明

图1是本发明第一实施例探头走线的结构示意图;

图2是本发明第三实施例的流程示意图;

具体实施方式

下面对本发明的较佳实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

,参照图1和图2,液晶显示屏测试连接装置制作方法,包括:

步骤S11,印刷探头走线22;

步骤S12,布置至少一触点223;

步骤S13,固定至少一触点223,连接至少一触点223与至少一探头走线22。

上述步骤S11,印刷探头走线22的步骤包括:

步骤S111,根据待测液晶显示屏1的至少一走线11,制作图形与至少一走线11对应的曝光用菲林;

步骤S112,根据曝光用菲林,在一基板21上形成探头走线22;使该探头走线22与至少一走线11对应。

步骤S12,布置至少一触点223的步骤包括:

步骤S121,根据曝光用菲林制作网版;

步骤S122,根据网版在探头走线22的局部涂覆胶水222;

步骤S123,在基板21上洒布至少一触点223,使至少一触点223覆盖探头走线22。

步骤S13,固定至少一触点223,连接至少一触点223与至少一探头走线22的步骤包括:

步骤S131,将至少一触点223与局部涂覆胶水222的探头走线22压紧,使至少一触点223黏着在探头走线22上;

步骤S132,使胶水222固化,将至少一触点223固定在探头走线22上;

步骤S133,清除未固定在探头走线22上的至少一触点223。

本发明提供的液晶显示屏测试连接装置及其制作方法发扬现有探针卡测试仪器检测方便直观、通用性强的优点,又解决了探针卡测试仪器制作成本高、难度大及定位难的缺点;操作简单、识别方便,便于生产工人使用;制作难度小,成本较低,尤其在液晶显示器制造工厂更为方便。

以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

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