[发明专利]电弧故障的检测方法及装置有效
| 申请号: | 201610776328.1 | 申请日: | 2016-08-30 |
| 公开(公告)号: | CN107797031B | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
| 发明(设计)人: | 邬佳希;陈献民;赵晓冬;赵韬敏 | 申请(专利权)人: | 上海复旦微电子集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张凤伟;吴敏 |
| 地址: | 200433 上海市杨浦区*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电弧 故障 检测 方法 装置 | ||
1.一种电弧故障的检测方法,其特征在于,包括:
采用预设的时域负载模型,对待检测电路的电信号进行采样,获得所述电信号在当前时刻采样点的电信号实际值,并根据所述电信号在当前计算周期内的采样点的电信号实际值,计算当前计算周期内的采样点的电信号残差值;
根据所述当前计算周期的采样点的电信号残差值,判断所述待检测电路当前时刻是否发生电弧故障;
当所述待检测电路未发生电弧故障时,根据所述当前时刻采样点的电信号实际值及所述时域负载模型的参数更新状态,更新所述时域负载模型的参数,包括:阶数和系数;
采用更新后的时域负载模型,重新对待检测电路的电信号进行采样,并判断所述待检测电路在下一时刻是否发生电弧故障;
所述根据所述当前时刻采样点的电信号实际值及所述时域负载模型的参数更新状态,更新所述时域负载模型的参数,包括:根据所述当前时刻采样点的电信号实际值及所述时域负载模型的参数更新状态,更新所述时域负载模型的阶数;根据更新后的所述时域负载模型的阶数,更新所述时域负载模型的系数。
2.如权利要求1所述的电弧故障的检测方法,其特征在于,所述根据所述当前计算周期内采样点的电信号残差值,判断所述待检测电路当前时刻是否发生电弧故障,包括:
根据所述当前计算周期内采样点的电信号残差值,判断所述待检测电路当前时刻是否产生电弧;
根据判断结果更新电弧计数器的值,并根据更新后的电弧计数器的值判断所述待检测电路当前时刻是否发生电弧故障。
3.如权利要求1所述的电弧故障的检测方法,其特征在于,所述根据所述当前时刻采样点的电信号实际值及所述时域负载模型的参数更新状态,更新所述时域负载模型的阶数,包括:
根据所述当前时刻采样点的电信号实际值,检测所述待检测电路在当前时刻是否进行负载切换;
检测所述时域负载模型是否处于参数更新过程;
根据所述待检测电路及所述时域负载模型的参数更新状态的检测结果,更新所述时域负载模型的阶数。
4.如权利要求3所述的电弧故障的检测方法,其特征在于,所述检测所述待检测电路在当前时刻是否进行负载切换,包括:
当所述电信号在当前时刻采样点的电信号残差值大于预设的残差最大值时,确定所述待检测电路在当前时刻进行负载切换,否则确定所述待检测电路在当前时刻未进行负载切换。
5.如权利要求3所述的电弧故障的检测方法,其特征在于,所述检测所述时域负载模型是否处于参数更新过程,包括:
读取第一寄存器的值,并根据所读取的第一寄存器的值,检测所述时域负载模型是否处于参数更新过程,所述第一寄存器适于存储所述时域负载模型是否处于参数更新过程的标识位的值。
6.如权利要求5所述的电弧故障的检测方法,其特征在于,所述根据所述待检测电路及所述时域负载模型的参数更新状态的检测结果,更新所述时域负载模型的阶数,包括:
当所述待检测电路在当前时刻进行负载切换且所述时域负载模型未处于参数更新过程时,按照预设的规则,从预设的N个阶数中选取相应的阶数作为所述时域负载模型的阶数,并触发中断计时器开始计时,以及更新第一寄存器及第二寄存器的值;所述第二寄存器,适于存储当前参数更新过程中,所述时域负载模型所处的参数更新阶段的标识位的值,N≥2且N为正整数。
7.如权利要求6所述的电弧故障的检测方法,其特征在于,所述根据所述待检测电路及所述时域负载模型的参数更新状态的检测结果,更新所述时域负载模型的阶数,还包括:
当所述待检测电路在当前时刻未进行负载切换或者所述时域负载模型处于参数更新过程时,读取所述第二寄存器的值,并根据所述第二寄存器的值确定所述时域负载模型的阶数是否已进行更新;
当确定所述时域负载模型的阶数已进行更新时,读取所述中断计时器的值,确定最近一次阶数更新的更新时长是否达到预设时长;
当所述最近一次阶数更新的更新时长达到预设时长时,按照所述预设的规则,从所述N个阶数中选取相应的阶数作为所述时域负载模型的阶数,并触发中断计时器开始计时,以及更新相应的寄存器的值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海复旦微电子集团股份有限公司,未经上海复旦微电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610776328.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





