[发明专利]一种用于光谱检测晶体切换装置

说明书

技术领域

本发明属于光谱仪检测仪器领域，尤其涉及一种用于光谱检测晶体切换装置。

背景技术

光谱仪需要测量数十个元素的特征谱线；而单独一块晶体只能检测有限数量的特征谱线，只有通过晶体切换装置将多个晶体逐个切换，才能实现全部谱线的测量。光谱仪是精密测量仪器，工业现场使用频率高；这就要求晶体切换装置切换定位精度高，动作可靠，使用寿命长；实际工作中还要求满足真空条件下的工作需要，因此迫切需要寻找一种能够解决此问题的晶体切换结构。

发明内容

有鉴于此，需要克服现有技术中的上述缺陷中的至少一个，本发明提供了一种用于光谱检测晶体切换装置。

所述一种用于光谱检测晶体切换装置包括晶体支撑部件，支撑框架，定位机构； 所述晶体支撑部件通过中轴转动安装在所述支撑框架上，所述晶体支撑部件为柱型，包括n个晶体装配结构，所述晶体装配结构均匀分布在所述晶体支撑部件的外侧面；所述定位机构安装在所述支撑框架上，所述定位机构包括定位基座，定位模块以及回弹机构；所述定位基座中心轴安装在所述支撑框架上且具有基座定位结构，所述定位模块一端联接在所述支撑框架上，另一端具有模块定位结构，所述基座定位结构与所述模块定位结构紧密配合，所述回弹机构一端固定联接在所述支撑框架上，另一端与所述定位模块相联；所述定位基座为圆盘结构，所述基座定位结构位于所述圆盘结构边缘，所述基座定位结构为凹槽或凸起，所述模块定位结构为与所述凹槽或凸起精确配合的定位凸起或定位凹槽；所述基座定位结构和所述模块定位结构精密配合且所述基座定位结构数量为大于等于1的自然数，所述定位机构中的所述定位基座的中轴和所述晶体支撑部件的中轴固定联接且与所述支撑框架转动联接，所述定位基座上的所述基座定位结构与所述晶体支撑部件上的所述晶体装配结构精确定位装配且一一对应。

根据本专利背景技术中对现有技术所述，在光谱仪测量元素的特征谱线时，由于有几十种元素，而单个晶体只能测量有限数量的特征谱线，因此只能通过晶体切换装置将多个晶体逐渐切换，而对于切换前后晶体的位置总是存在较大的误差；而本发明公开的一种用于光谱检测晶体切换装置，通过采用晶体支撑部件和定位机构的结合，在完成切换晶体的同时还保证了晶体的定位精度，且动作过程可靠，并使检测装置的使用寿命增长了，因此具有明显的优点。

另外，根据本发明公开的用于光谱检测晶体切换装置还具有如下附加技术特征：

进一步地，所述晶体装配结构包括开口背离所述晶体支撑部件中心方向的第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于所述第二凹槽下方，所述第二凹槽顶部具有凸起，所述第二凹槽侧面及所述凸起内侧面为与晶体表面相配合的平面。

进一步地，所述晶体支撑部件中空，且具有中轴。

中空结构减轻了所述晶体支撑部件的整体重量，使得安装更加方便。

进一步地，所述晶体装配结构的内表面安装有具有向外弹出部件的弹性装置，所述向外弹出部件的顶端高于所述第一凹槽的深度。

如此，可以将所述晶体顶起与所述晶体装配结构精密接触。

进一步地，所述弹性装置下端具有横片，下部形成“L”型结构。

形成的L型结构，是使得所述晶体的下端被托起，避免滑落。

进一步地，所述晶体装配结构中形成所述第一凹槽和所述第二凹槽的两侧支板上表面为平面且具有第三凹槽。

所形成的凹槽可以使得所述晶体与所述上表面更好的接触和推入。

进一步地，所述支撑部件为立体四边结构，包括上支撑边，下支撑边，左支撑边，右支撑边，所述上支撑边上具有与通过所述晶体支撑部件中轴线的中轴相联的转动部件，所述定位基座安装在所述晶体支撑部件的下方且与所述晶体支撑部件精确固定。

如此，可以使得所述定位基座和所述晶体支撑部件同步转动。

进一步地，所述支撑框架为包括上边、下边、左边和右边构成的四边结构，所述定位基座中心轴转动安装在通过所述支撑框架的所述上边和所述下边的中心轴上，所述支撑框架一体成型。

优选地，所述凹槽或所述凸起为圆弧形凹槽或圆弧形凸起，所述定位凸起或所述定位凹槽为与对应的所述凹槽或所述凸起精密配合的圆弧形凸起或圆弧形凹槽。

进一步地，所述基座定位结构数量为2、4、6、8个。

优选地，所述凹槽或所述定位凹槽边缘为圆角。

优选地，所述模块定位结构为转动部件。

采用圆角边缘结构和转动部件，可以使得所述圆弧形凹槽和所述圆弧形凸起更容易脱开，减少运行阻力。