[发明专利]非接触式智能卡整套兼容性测试系统在审
申请号: | 201610569451.6 | 申请日: | 2016-07-19 |
公开(公告)号: | CN107632248A | 公开(公告)日: | 2018-01-26 |
发明(设计)人: | 张修远 | 申请(专利权)人: | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/00 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 智能卡 整套 兼容性 测试 系统 | ||
1.一种非接触式智能卡整套兼容性测试系统,其特征在于,包括:
一非接触式智能卡兼容性测试仪,具有X,Y,Z三根完全独立运动的轴,根据需要进行上下、左右或前后的单轴移动,在控制下进行双轴或三轴协同运动,完成一个轨迹运动的过程;被测非接触式智能卡片固定在Z轴末端的夹爪上;
一非接触智能卡读卡器,设置在非接触式智能卡兼容性测试仪底座的基座上,用于与所述被测非接触式智能卡进行通讯,读取被测非接触式智能卡的数据;
一测试PC,分别与所述非接触式智能卡兼容性测试仪和非接触智能卡读卡器相连接,运行测试上位机软件,通过在测试上位机软件中编制不同测试脚本,控制被测非接触式智能卡按照指令要求,进行不同轨迹移动,同时控制非接触智能卡读卡器进行应用指令的收发,根据预先编写的脚本对当前被测非接触式智能卡片状态进行校验,以确认是否通过测试。
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于:所述测试上位机软件采用TCL/TK语言编制。
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述非接智能卡兼容性测试仪,包括:
一机架,该机架内部具有两块空间,第一空间位于机架上方,为电机和控制器空间;第二空间位于第一空间的下方,为机械臂空间;
一三轴联动的机械臂,倒置安装在第二空间的上端;其中,X轴固定在第二空间上方的机架上,Y轴导轨固定在X轴的联动器上,Z轴导轨固定在y轴的移动点上;Z轴末端装有能固定卡非接触式智能卡片的夹爪和真空吸嘴,夹爪通过传动装置与第一空间中的电机相连接,真空吸嘴通过吸管与第一空间中的真空泵相连接,能够确保移动时卡片不会掉落;
一底座,位于机架的底部,设有固定非接触式智能卡读卡器的绑带和三层基座;能够确保机械臂高速移动产生的震动不会让非接触式智能卡读卡器移位,并且三层基座能够调节不同高度来对应不同厚度的非接触式智能卡读卡器,确保机械臂的行程范围。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹集成电路有限责任公司,未经上海华虹集成电路有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610569451.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种锂电池座式充电器
- 下一篇:球阀的限位机构