[发明专利]测量电路网络的系统及方法有效
申请号: | 201610494101.8 | 申请日: | 2016-06-29 |
公开(公告)号: | CN107543983B | 公开(公告)日: | 2019-11-08 |
发明(设计)人: | 陈文杰 | 申请(专利权)人: | 联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆;胡彬 |
地址: | 200233 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 电路 网络 系统 方法 | ||
本发明公开了一种测量电路网络的系统及方法。其中,所述方法包括:将满足预设的周期波形特征的基带发射信号予以输出;将基带发射信号调制后发射到待测电路网络中;利用周期波形特征对接收于待测电路网络中的信号进行解调,以得到基带接收信号;利用基带发射信号的周期波形特征,测量并消除基带接收信号的时偏和频偏;通过对消除时偏和频偏后的基带接收信号与预生成的参考信号的信号匹配,测量电路网络的非线性函数;其中,参考信号是基于基带接收信号频率f'a、基带接收信号的周期波形特征预先生成的。本发明有效减少了现有测量系统对现有测试仪器的硬件改进,并有效提高了测量速度。
技术领域
本发明实施例涉及信号处理技术,尤其涉及一种测量电路网络的系统及方法。
背景技术
测量电路网络的非线性特性的意义在于了解非线性网络的输入-输出幅度增益特性(AM-AM特性)和输入-输出相位偏移特性(AM-PM特性),来判断网络的功率线性范围和对于信号的适用能力,如根据AM-AM和AM-PM特性得到1dB增益压缩点、功率饱和点、增益压缩特性和相位歧变特性等。判断在一定信号下的适用最大功率范围和预期的ACLR和EVM等指标。是射频硬件方案设计中的关键步骤。同时也是数字预失真(DPD)和包络跟踪(ET)技术应用的核心的参数。
现有的非线性参数测量装置主要有两种:网络分析仪测量装置,和由信号源及频谱仪组成的非线性参数测试系统测量装置。
(1)网络分析仪测量装置,是将网络分析仪的输出和输入连接非线性待测网络的输入和输出端口,并采用逐点扫测功率的方式,测试输入功率范围内的所有点的AM-AM和AM-PM特性。此方法适用于输入输出都为模拟接口的非线性网络参数测量。
(2)采用信号源及频谱仪组成的非线性参数测试系统的测量装置,是将信号源和频谱仪分别连接非线性待测网络的输入和输出端口,需要由特定的测量软件完成测量中的仪表设置、同步、交互和计算结果的功能,如信号源参数设置、建立信号源和频谱仪的参考同源和时间同步,需要与两台仪表分别交互传输控制和数据,并通过比对软件下载到信号源的信号,和从频谱仪上传回到软件的信号的幅度与相位数据,通过算法计算得到AM-AM和AM-PM参数。
现有的技术(1)存在的缺点是:(a)适用于输入和输出都为模拟的网络,不能适用于数字接口输入到模拟输出的网络非线性参数的测量。(b)必须由网络分析仪内部实现收发同源和同步方式,采用逐点扫功率进行测试。这样才能保证输入和输出信号幅度和相移的正确对应关系。因此操作速度慢。(c)扫频信号以功率线性扫描方式为主,因此扫频信号频谱带宽较大,在衡量较窄带宽的待测网络时,会导致测量失真,因此需降低测量速率得到精度和速度的权衡。(d)测量采用逐点测试记录方式因此影响测试速率。
现有的技术(2)存在的缺点是:(a)需要由软件完成与两台仪表的参考同源、时间同步和数据交换,否则无法计算信号的AM-AM和AM-PM特性,环境实现复杂。(b)需仪表制造商提供完整测量方案,信号源和频谱仪选用范围受限,使用灵活性较差,成本较高。(c)测试方式以扫频信号为功率线性逐点扫描方式为主带宽较大,同样需兼顾精度和速度,无法实现快速测量。(d)实现不同类型接口的测量也比较复杂。(e)测量采用逐点测试记录方式因此影响测试速率。
总之,现有装置都采用收发同源和时间同步的方式,导致系统复杂成本高,精度和速度不兼顾等问题。
发明内容
本发明提供一种测量电路网络的系统及方法,以解决测量系统硬件复杂,不利于适用不同电路网络测试的问题。
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