[发明专利]干涉成像光谱仪及干涉仪

权利要求书

1.干涉成像光谱仪，其特征在于：包括前置成像物镜、干涉仪、成像耦合镜和光电探测器；

所述干涉仪包括两块相同的等腰梯形棱镜，两块等腰梯形的下底面胶合，相胶合的面为分束面；两块等腰梯形的上底面为反射面；两块等腰梯形棱镜的4个腰面中，其中相邻的两个腰面为干涉仪的两个入射端，另两个腰面为干涉仪的两个出射端；

所述前置成像物镜收集来自目标景物的能量并成像于前置成像物镜的焦面位置；所述干涉仪位于焦面位置、且一个入射端朝向前置成像物镜，目标景物的像经干涉仪后产生带有干涉条纹的目标图像；所述成像耦合镜位于干涉仪的出射光路上、并将带有干涉条纹的目标图像成像于所述光电探测器上。

2.根据权利要求1所述的干涉成像光谱仪，其特征在于：所述等腰梯形棱镜的底角是45°。

3.根据权利要求2所述的干涉成像光谱仪，其特征在于：所述等腰梯形棱镜的腰长为a，下底长为b，a和b满足

4.根据权利要求1或2或3所述的干涉成像光谱仪，其特征在于：所述等腰梯形棱镜上底与下底之间存在角度为α的楔角，楔角的旋转点位于上底的中心。

5.根据权利要求4所述的干涉成像光谱仪，其特征在于：

所述干涉仪的光程差Δ＝4nαy；

其中，n为干涉仪棱镜材料的折射率；

y为目标景物在前置成像物镜处的成像的像高。

6.根据权利要求5所述的干涉成像光谱仪，其特征在于：带有干涉条纹的目标图像在光电探测器上成像像面光谱维的像高y′满足如下公式：

y′＝βy；

其中，B为成像耦合镜的垂轴放大率。

7.一种干涉仪，其特征在于：

所述干涉仪包括两块相同的等腰梯形棱镜，两块等腰梯形的下底面胶合，相胶合的面为分束面；两块等腰梯形的上底面为反射面；两块等腰梯形棱镜的4个腰面中，其中相邻的两个腰面为干涉仪的两个入射端，另两个腰面为干涉仪的两个出射端；

所述等腰梯形棱镜的底角是45°；

所述等腰梯形棱镜的腰长为a，下底长为b，a和b满足

所述等腰梯形棱镜上底与下底之间存在角度为α的楔角，楔角的旋转点位于上底的中心。

8.根据权利要求7所述的干涉仪，其特征在于：

所述干涉仪的光程差Δ＝4nαy；

其中，n为干涉仪棱镜材料的折射率；

α为等腰梯形棱镜上底与下底之间存在的楔角，楔角的旋转点位于上底的中心；

y为入射至干涉仪的图像的像高。

9.根据权利要求8所述的干涉仪，其特征在于：所述干涉仪的一个入射端设置为定标端口，一个出射端设置成像光路。