[发明专利]以单、双数为准据的电子元件分类方法及装置

说明书

本发明是一种以单、双数为准据的电子元件分类方法及装置，包括：一检测机构，执行一间歇旋转的电子元件搬运流路并检测电子元件的特性，该检测机构设有一测盘，该测盘周缘等距环列布设有多个容槽供电子元件容置；一第一收集区，该第一收集区设有多个第一类料盒，用以收集检测后料码归类为单数的电子元件；一第二收集区，该第二收集区设有多个第二类料盒，用以收集检测后料码归类为双数的电子元件；一第一分配装置，该第一分配装置与一第一排出管连通，该第一排出管对应该测盘其中一容槽，该第一分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第一收集区的该第一类料盒相对应；一第二分配装置，该第二分配装置与一第二排出管连通，该第二排出管对应该测盘其中一容槽，该第二分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第二收集区的该第二类料盒相对应。

【技术领域】

本发明是有关于一种分类方法及装置，尤指使用在具有不同特性的电子元件上，将多个电子元件各自依其特性归类电子组件的料码，并依料码的单、双数为准据将电子组件分配至不同收集区的以单、双数为准据的电子元件分类方法及装置。

【背景技术】

按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分类的装置必须提供精密、迅速的搬送，此外，由于制程因素，同一电子元件的物理特性愈来愈多样化，因此分类装置的可分类级(Bin)数被要求日益提升，由早期的32级增加到64级，至目前常用的128级或256级，甚至业界已有512级的分类装置出现，随着电子元件分类级数的提升且因其物理特性具有集中于部分料码(Bin Code)的情形，遂有如专利号第I402108号「用于测试和分类电子元件的系统」的方式，以两个输送管道将不同特性的电子元件由旋转台移动到高速容器盘或常规容器盘来提高分类速度，其中，高速容器盘的接收座数量小于常规容器盘。

【发明内容】

惟，已知的两个输送管道搭配两个接收座数量不同的容器盘的分类方式虽可提高分类速度，但需使用在电子元件的特性集中在少数料码之前提下，一般是适用于128级以下的分类，若是使用于256级以上的分类，此种集中在少数料码的情形虽然还是会存在，但因级数的增加，原本高速容器盘的接收座数量亦需提升，且以256级的分类为例，在分成一个是1至128料码的容器盘，另一个是129至256料码的容器盘，在两个输送管道搭配两个容器盘的情形下，请参阅图10，电子元件由旋转台间歇旋转搬运到定位排出会有四种逻辑，只要电子元件有从旋转台排出一次，就需等待一次电子元件在输送管道内移动至容器盘的移动时间，只有在皆不需要排出的﹝无；无﹞情形，才可节省该次的移动时间，使旋转台快速转动至下一排出情形发生，因在256级的分类下电子元件特性一般会较集中于第1至128料码的区间，故有一输送管道单独使用占了85％的比例，这意谓着另一输送管道有85％比例闲置，而可节省移动时间的﹝无；无﹞情形仅有5％比例；换言之，随着高速容器盘的接收座数量提升甚至等同于常规容器盘的接收座数量时，将会导致一个输送管道处于过于忙碌状态，而另一个输送管道大部分处于闲置状态，产生电子元件在旋转台内耗费额外时间等待进入输送管道处的情形，无法均匀分配两个输送管道的效能，电子元件分类速度受到限制。

爰是，本发明的目的，在于提供一种有效提高电子元件分类速度的以单、双数为准据的电子元件分类方法。

本发明的另一目的，在于提供一种有效提高电子元件分类速度的以单、双数为准据的电子元件分类装置。

依据本发明目的的以单、双数为准据的电子元件分类方法，包括：使多个电子元件被一检测机构进行搬送及特性检测，并依电子元件的特性归类电子元件的料码；当电子元件被检测出其料码归类为单数时，将该电子元件由一第一排出管经一第一分配装置至一第一收集区收集；当电子元件被检测出其料码归类为双数时，将该电子元件由一第二排出管经一第二分配装置至一第二收集区收集。

依据本发明另一目的的以单、双数为准据的电子元件分类装置，包括：用以执行如权利要求1所述种电子元件分类方法的装置。