[发明专利]一种加载MCU芯片的配置信息字的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种加载MCU芯片的方法，具体是一种加载MCU芯片的配置信息字的方法。

背景技术

MCU芯片的配置信息字是预先存储于MCU芯片内部的配置控制信息。当MCU芯片在上电复位后，芯片根据预先存储于芯片内部的配置信息的不同，将芯片置于相应的工作模式；以及根据不同的芯片配置信息，相应地配置芯片内部模块。它是MCU芯片工作相关的全局性配置。

一般来说，这些信息是存储于芯片内部的非易失性存储器（NVM， non-volatile memory）中。在芯片掉电之后，这些信息依然可以保存下来，使得MCU芯片在重新上电后，能够工作在预期的模式下。例如，MCU芯片的配置信息通常包括MCU芯片的复位时间，复位电压，工作时钟频率，时钟校准器，其它模块的性能校准值，IO引脚映射控制等信息。芯片的配置信息是否正确地加载直接关系到MCU芯片在上电之后，是否按照预期的模式来工作。任何数据错误将会使芯片不能按照预期正常地工作。另一方面，由于MCU芯片在应用系统中通常处于重要的控制核心的地位，所以在系统的在场应用中，如果MCU芯片由于加载芯片配置信息字出现错误，将有可能导致应用系统出现严重的系统错误。因此，在MCU芯片上电复位后，正确地加载芯片的配置信息字是MCU芯片工作过程中的一个非常重要的环节。

发明内容

本发明的目的在于提供一种加载MCU芯片的配置信息字的方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种加载MCU芯片的配置信息字的方法，通过从芯片的NVM存储器中加载芯片配置信息字的同时，对芯片配置信息字的内容进行校验。

作为本发明再进一步的方案：将芯片配置信息字及其校验字节一并保存到NVM中的bank1区域与bank2区域，在加载的时候先加载bank1区域的配置信息字进行校验，如果校验失败再加载bank2区域的配置信息字进行校验；通过在加载芯片配置信息字的同时进行校验，能够检测到加载芯片配置信息字的数据出现错误，当MCU无法在加载到正确的配置信息字时，通过将MCU内核复位始终处于复位状态，令MCU内核不运行。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：一、本方案通过将芯片配置信息字及其校验字节一并保存到NVM中的bank1区域与bank2区域，在加载的时候先加载bank1区域的配置信息字进行校验，如果校验失败再加载bank2区域的配置信息字进行校验，提高MCU芯片加载芯片配置信息字的可靠性。

二、本方案通过在加载芯片配置信息字的同时进行校验，能够检测到加载芯片配置信息字的数据出现错误，当MCU无法在加载到正确的配置信息字时，通过将MCU内核复位始终处于复位状态，令MCU内核不运行，从而避免由于MCU芯片工作于预期之外的工作模式而导致应用系统出现严重的错误。

附图说明

图1为加载MCU芯片的配置信息字的方法的结构原理框图；

图2为加载MCU芯片的配置信息字的方法中加载校验模块的示意图；

图3为加载MCU芯片的配置信息字的方法中加载配置信息成功的情况的复位控制模块时序图。

图4为加载MCU芯片的配置信息字的方法中加载配置信息失败的情况的复位控制模块时序图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1～4，本发明实施例中，一种加载MCU芯片的配置信息字的方法，通过从芯片的NVM存储器中加载芯片配置信息字的同时，对芯片配置信息字的内容进行校验；将芯片配置信息字及其校验字节一并保存到NVM中的bank1区域与bank2区域，在加载的时候先加载bank1区域的配置信息字进行校验，如果校验失败再加载bank2区域的配置信息字进行校验；通过在加载芯片配置信息字的同时进行校验，能够检测到加载芯片配置信息字的数据出现错误，当MCU无法在加载到正确的配置信息字时，通过将MCU内核复位始终处于复位状态，令MCU内核不运行。