[发明专利]一种数控磨齿机在机测量系统的齿廓测量方法

权利要求书

1.一种数控磨齿机在机测量系统的齿廓测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

a、测量误差补偿模型的建立；磨齿加工前，采用在机测量系统对与待测齿轮相对应的标准齿轮进行测量，得到在机测量系统在标准齿轮齿廓的测点处的误差值，并将该误差值转换成在机测量系统的补偿值，建立测量误差补偿模型；

b、在对齿轮工件工作区进行测量时，利用测量误差补偿模型中的补偿值对测点的测量值进行补偿，得到待测齿轮齿廓的测量结果；

所述步骤a中，标准齿轮齿廓的测点处的误差值测量还包括如下步骤：

a1、初步确定X轴的位置偏差δ_x；对标准齿轮齿廓上的任一测点A进行测量时，测头的圆心点的理论定位点为M，实际定位点为M1，对应的实际测点为A1，则测点A处X轴的位置偏差δ_x为：

δ_X＝X_M-X_M1

式中：

XM=(rbcosϵA+rbϵAsinϵA+rkcosβbsinϵA)cosγA-(rbsinϵA+rbϵAcosϵA+rkcosβbcosϵA)sinγA,]]>

XM1=(rbcosϵA1+rbϵA1sinϵA1+rkcosβbsinϵA1)cosγA1-(rbsinϵA1+rbϵA1cosϵA1+rkcosβbcosϵA1)sinγA1,]]>

γA=arctan(-rbsinϵA+rbϵAcosϵA+rkcosβbcosϵA-rbcosϵA+rbϵAsinϵA+rkcosβbsinϵA),]]>

γA1=arctan(-rbsinϵA1+rbϵA1cosϵA1+rkcosβbcosϵA1rbcosϵA1+rbϵA1sinϵA1+rkcosβbsinϵA1),]]>

r_k为测头的半径，r_b为基圆的半径，ε_A为测点A的展角，ε_A1为测点A1的展角，β_b为齿轮螺旋角；

a2、确定C轴的旋转误差；将上述步骤中的位置偏差δ_x补偿到在机测量系统中，再次对测点A进行测量，测头的圆心点的实际定位点为M2，对应的实际测点为A2，则C轴的旋转误差为：

ε_C＝ε_A-ε_A2

确定X轴总的位置偏差δ_x总为：

δ_X总＝X_M-X_M2

式中，

X_M2＝(r_bcosε_A2+r_bε_A2sinε_A2+r_kcosβ_bsinε_A2)cosγ_A2—(r_bsinε_A2+r_bε_A2cosε_A2+r_kcosβ_bcosε_A2)sinγ_A2

γA2=arctan(-rbsinϵA2+rbϵA2cosϵA2+rkcosβbcosϵA2rbcosϵA2+rbϵA2sinϵA2+rkcosβbsinϵA2),]]>

ε_A2为测点A2的展角；

其中，X轴为沿齿轮工件径向设置的轴，C轴为齿轮工件的主轴转动轴。