[发明专利]VCM一体化性能测试方法及系统

说明书

一种VCM一体化性能测试方法，包括如下步骤：S1：通过MCU的AD信号采集，计算出VCM阻值，从而得出需要输入的电压V；S2：电源电路在VCM两端施加上述电压V，使得VCM中有对应的初始电流I通过，与VCM测试模块连接的镭射测距仪，其输出的距离数字通过VCM测试模块回传给MCU，MCU计算得出VCM震荡周期T，并将VCM震荡周期T上传服务器；S3：MCU询问是否测试震荡抑制，若是，进入如下步骤：S4：打开MCU的定时器，于第一个震荡周期T内的某一时间点t，调节电压，将对VCM的输入电流i减少到某一个小于初始电流I的电流值，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流i，最终恢复初始电流I，实现VCM震荡抑制。

技术领域

本发明涉及一种VCM一体化性能测试方法及系统，尤其是一种能够完成震荡周期测试之后实现震荡抑制的VCM一体化性能测试方法及系统。

背景技术

VCM当运动到一个相应的位置是都有一个类似与弹簧的机械震荡，同样也有对应的震荡周期，VCM必须进过一定时间才能达到一个相对稳定期。手机端由于VCM震荡不利于快速对焦，因而抑制震荡是需要解决的一个问题。

发明内容

为了克服上述缺陷，本发明提供一种VCM一体化性能测试方法及系统，所述VCM一体化性能测试方法及系统能够在完成震荡周期测试之后继续实现震荡抑制。

本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案一是：一种VCM一体化性能测试方法，包括如下步骤：S1：通过主控单元(MCU)的AD(模拟-数字)信号采集，计算出VCM阻值，从而得出需要输入的电压V；S2：电源电路在VCM两端施加上述电压V，使得VCM中有对应的初始电流I通过，与VCM测试模块连接的镭射测距仪，其输出的距离数字通过VCM测试模块回传给MCU，MCU计算得出VCM震荡周期T，并将VCM震荡周期T上传服务器；S3：MCU询问是否测试震荡抑制，若是，进入如下步骤：S4：打开MCU的定时器，于第一个震荡周期T内的某一时间点t(0<t<震荡周期(T))，调节电压，将对VCM的输入电流i减少到某一个小于初始电流I的电流值(0<i<初始电流(I))，使VCM产生一个向下的力来抵消VCM向上的震荡力，并在此基础上逐渐加大输入电流i，最终恢复初始电流I，实现VCM震荡抑制。

作为本发明的进一步改进，所述步骤S4里减少输入电流的时间点t位于T/5与T/4之间，该时间点t的输入电流i为3I/4。

作为本发明的进一步改进，步骤S1之后还包括启动电流测试S11：持续增加电压使通过VCM的电流逐渐增大，观察镭射测距仪是否有质变？若是，将引起镭射测距仪质变的该电流值作为启动电流测试的结果上传服务器。

作为本发明的进一步改进，在步骤S1之后还包括VCM行程测试S12：调节电压使通过VCM的电流从能够承受的最小值逐渐增大到最大值，观察镭射测距仪上的数值变化量，将该数值变化量作为VCM行程测试的结果上传服务器。

作为本发明的进一步改进，在步骤S1之后还包括VCM寿命测试S13：调节电压不间断地给VCM输入能够承受的最小、最大电流，观察镭射测距仪有无大变化？若否，将测试的次数作为VCM寿命测试的结果上传服务器。

作为本发明的进一步改进，还包括步骤S0：MCU询问是EEPROM测试还是VCM测试？若是VCM测试，进入步骤S1；若是EEPROM测试S03，包括如下步骤：

S031：将一个随机数写入任意一个固定地址中；

S032：从同一个地址里读出数据；

S033：判断读出数据是否与写入数据一致？

若是，返回步骤S031；

若否，进入步骤S034：判断失败次数是否超过规定次数？