[发明专利]触控模组、电子设备及压力校准方法

权利要求书

1.一种触控模组，其特征在于，所述触控模组包括：触摸屏、a个第一压力触控传感器、b个第二压力触控传感器和触控集成电路IC，所述a为正整数，所述b为正整数；

每个第一压力触控传感器在所述触摸屏所在平面内的投影，位于所述触摸屏的周侧部分所在区域中；每个第二压力触控传感器在所述触摸屏所在平面内的投影，位于所述触摸屏的中间部分所在区域中，所述第二压力触控传感器的数量b大于或等于2，所述b个第二压力触控传感器呈阵列形式分布；

每个第一压力触控传感器和每个第二压力触控传感器分别与所述触控IC电性连接。

2.根据权利要求1所述的触控模组，其特征在于，所述第一压力触控传感器的数量a为4，所述周侧部分由顺次连接的上边部分、右边部分、下边部分和左边部分围合而成；

所述4个第一压力触控传感器在所述触摸屏所在平面内的投影，分别位于所述上边部分、所述右边部分、所述下边部分和所述左边部分所在区域中。

3.根据权利要求1所述的触控模组，其特征在于，所述第一压力触控传感器的数量a为1，所述第一压力触控传感器在所述触摸屏所在平面内的投影呈环形，并位于所述周侧部分所在区域中。

4.根据权利要求1所述的触控模组，其特征在于，所述触控IC，用于：

获取目标压力触控传感器对应的实际电容值和基准电容值，所述目标压力触控传感器是所述a个第一压力触控传感器中的一个，所述基准电容值是指所述目标压力触控传感器未检测到压力信号时所对应的电容值；

当所述实际电容值与所述基准电容值不等时，检测当前是否存在作用于所述目标压力触控传感器的操作体；

若当前不存在所述操作体，则根据所述实际电容值对所述基准电容值进行修正。

5.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：触控模组和处理器；

所述触控模组包括：触摸屏、a个第一压力触控传感器、b个第二压力触控传感器和触控集成电路IC，所述a为正整数，所述b为正整数；

每个第一压力触控传感器在所述触摸屏所在平面内的投影，位于所述触摸屏的周侧部分所在区域中；每个第二压力触控传感器在所述触摸屏所在平面内的投影，位于所述触摸屏的中间部分所在区域中，所述第二压力触控传感器的数量b大于或等于2，所述b个第二压力触控传感器呈阵列形式分布；

每个第一压力触控传感器和每个第二压力触控传感器分别与所述触控IC电性连接；

所述触控IC还通过总线与所述处理器电性连接。

6.一种压力校准方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求1所述的触控模组的触控集成电路IC中，所述方法包括：

获取目标压力触控传感器对应的实际电容值和基准电容值，所述目标压力触控传感器是所述a个第一压力触控传感器中的一个，所述基准电容值是指所述目标压力触控传感器未检测到压力信号时所对应的电容值；

当所述实际电容值与所述基准电容值不等时，检测当前是否存在作用于所述目标压力触控传感器的操作体；

若当前不存在所述操作体，则根据所述实际电容值对所述基准电容值进行修正。

7.根据权利要求6述的方法，其特征在于，所述检测当前是否存在作用于所述目标压力触控传感器的操作体，包括：

检测所述触摸屏中与所述目标压力触控传感器对应的位置处是否存在触摸信号；

若存在所述触摸信号，则确定存在作用于所述目标压力触控传感器的操作体；

若不存在所述触摸信号，则确定不存在作用于所述目标压力触控传感器的操作体。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述实际电容值对所述基准电容值进行修正，包括：

将所述实际电容值作为修正后的基准电容值。