[发明专利]一种针对光相位解调仪的校准装置及校准方法有效
申请号: | 201610323555.9 | 申请日: | 2016-05-16 |
公开(公告)号: | CN106017532B | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 张万经;陈小宝;汤钧;刘英明;李洋 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十三研究所 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 上海市嘉华律师事务所31285 | 代理人: | 黄琮,夏烨 |
地址: | 200437 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 针对 相位 解调 校准 装置 方法 | ||
1.一种针对光相位解调仪的校准装置,其特征在于:所述校准装置包括干涉仪定标系统(1)和光纤干涉系统(2),所述干涉仪定标系统(1)用于在校准前对光纤干涉系统(2)进行定标;所述干涉仪定标系统(1)包括光源(10)、光电转换器(11)和示波器(12);所述光纤干涉系统(2)包括干涉仪(20)和信号发生器(21);所述干涉仪(20)包括位于其光输入端的分光单元(200)、调制器(201)、位于其光输出端的合光单元(202);所述干涉仪(20)的光输入端在定标时用于与光源(10)的光输出口相连接,在校准时用于与待校准的光相位解调仪(3)的光源端机(30)的输出口相连接;所述调制器(201)的电信号输入口用于与所述信号发生器(21)的电信号输出口相连接以接收调制信号;所述光源(10)输出的光经分光单元(200)分光后,一路为参考光,另一路调制光经调制器(201)调制后与参考光在合光单元(202)的作用下合光产生干涉,所述干涉仪(20)的光输出端在定标时用于与所述光电转换器(11)的光输入口相连接,在校准时用于与待校准的光相位解调仪(3)的解调端机(31)的输入口相连接;所述光电转换器(11)将接收到的光信号转换为电信号后输出至所述示波器(12)。
2.根据权利要求1所述的一种针对光相位解调仪的校准装置,其特征在于,所述分光单元(200)与合光单元(202)均为2*2耦合器。
3.根据权利要求1所述的一种针对光相位解调仪的校准装置,其特征在于,所述分光单元(200)为2*2耦合器,所述合光单元(202)为3*3耦合器。
4.根据权利要求2或3所述的一种针对光相位解调仪的校准装置,其特征在于:所述光电转换器(11)的带宽大于等于40MHz。
5.一种使用权利要求1所述针对光相位解调仪的校准装置进行校准的方法,其特征在于:包括如下步骤:
步骤1:定标,采用干涉仪定标系统(1)对光纤干涉系统(2)定出2kπ(k=1,2……)的相移量;
将光纤干涉系统(2)与干涉仪定标系统(1)相连接,光源(10)输出光至干涉仪(20)的光输入端,进入干涉仪(20)的光被位于其光输入端的分光单元(200)分成两路光,一路光为参考光,另一路光为调制光,通过信号发生器(21)对调制光加载频率为f,电压幅度为V,偏置电压为V0的调制信号,调制光的相位受到信号发生器(21)的调制,调制光与参考光由位于干涉仪(20)光输出端的合光单元(202)进行合光发生干涉,合光后输出至光电转换器(11),转换成电信号后输出至示波器(12),调节信号发生器(21)的调制信号直至由示波器(12)观察得到2kπ(k=1,2……)的相移量,并从信号发生器(21)上读出此时调制电压幅度V2kπ(f);
步骤2:校准光相位解调仪
将光纤干涉系统(2)与干涉仪定标系统(1)断开,将光相位解调仪(3)的光源端机(30)的输出口与干涉仪(20)的光输入端相连接,将干涉仪(20)的光输出端与光相位解调仪(3)的解调端机(31)的输入口相连接,光从光源端机(30)输入干涉仪(20)后被位于其光输入端的分光单元(200)分成两路光,一路光为参考光,另一路光为调制光,通过信号发生器(21)对调制光加载步骤1所得频率f,调制电压幅度V2kπ(f)的调制信号,在光相位解调仪上(3)读出此时光相移量幅度Φ,将光相移量幅度Φ与2kπ(k=1,2……)的光相移量进行偏差计算,所得偏差若符合用户需求或计量标准,则光相位解调仪为合格产品;若不符合,则光相位解调仪为不合格产品。
6.根据权利要求5所述的校准方法,其特征在于,所述步骤1中,调制光与参考光在合光单元作用(202)进行合光发生干涉,合光后输出一路光至光电转换器(11),示波器(12)上显示干涉图形,调节调制信号至干涉图形的上凹点A和下凹点B的电压值相等,即当上凹点A和下凹点B的电压值之差d=0时,得出相移量为Ф(f)=2kπ,此时计算上凹点A和下凹点B的连线与干涉图形的交点个数为n,得出k=(n+1)/2,继而在信号发生器(21)上读出调制电压幅度V2kπ(f)。
7.根据权利要求5所述的校准方法,其特征在于,所述步骤1中,所述合光单元(202)采用3*3耦合器,调制光与参考光在3*3耦合器作用下合光并发生干涉,并生成三路光,从中随机挑选两路光输出至光电转换器(11),示波器(12)显示为李萨茹图形,调节调制信号至使图形的缺口闭合,干涉仪的相移量为Ф(f)=2π,继而在信号发生器(21)上读出调制电压幅度为V2π(f)。
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