[发明专利]一种基于标准样品的折射率测量装置在审

专利信息
申请号: 201610309807.2 申请日: 2016-05-11
公开(公告)号: CN107367485A 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 张启龙 申请(专利权)人: 扬州维姆科技有限公司
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 长沙星耀专利事务所(普通合伙)43205 代理人: 许伯严
地址: 225600 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 标准 样品 折射率 测量 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及光学领域,具体涉及一种基于标准样品的折射率测量装置。

背景技术

光学材料在光学领域至关重要,好的光学材料能够提供特殊的光学特性。光学材料在支撑透镜等部件要保证折射率、均匀度等特性,因此光学材料在制作时需要进行检测步骤。

发明内容

发明目的:本发明旨在克服现有技术的缺陷,提供一种基于标准样品的折射率测量装置。

技术方案:一种基于标准样品的折射率测量装置,包括第一激光器、第二激光器、平板玻璃、平面反射镜、标准样品、被测样品、第一CCD探测器和第二CCD探测器;所述第一激光器和第二激光器发出不同波长的单色光,且发出的光线互相平行;所述标准样品和被测样品为形状尺寸相同的长方体形;第一、二激光器发出的光的一部分透过所述平板玻璃后再透过所述标准样品在第一CCD探测器上形成第一光斑和第二光斑,另一部分被所述平板玻璃反射后再被平面反射镜反射,之后透过平板玻璃再透过所述被测样品后在第二CCD探测器上形成第三光斑和第四光斑;所述平面反射镜和平板玻璃平行,所述第一、二激光器发出的光线和平板玻璃呈45度角;测量装置还包括控制器,当第一光斑和第二光斑之间的距离与第三光斑和第四光斑之间的距离不同时,控制器判断被测样品不合格。

进一步地,所述第一激光器发出的光的波长大于第二激光器发出的光的波长。

进一步地,所述第一、二CCD探测器均为面阵CCD探测器。

进一步地,所述第一、二CCD探测器的感光面与所述平板玻璃平行。

进一步地,所述测量装置还包括显示器,当第一光斑和第二光斑之间的距离与第三光斑和第四光斑之间的距离不同时,控制器利用显示器提示被测样品不合格。

进一步地,所述第一、二、三、四的光斑直径均小于0.5mm。

有益效果:本发明的测量装置,以标准样品作为基准,测量准确,并且具有显示器直观地提示不合格信息。

附图说明

图1为本发明测量装置示意图。

具体实施方式

附图标记:1.1第一激光器;1.2第二激光器;2平板玻璃;3平面反射镜;4标准样品;5被测样品;6第一CCD探测器;7第二CCD探测器。

一种基于标准样品的折射率测量装置,包括第一激光器1.1、第二激光器1.2、平板玻璃2、平面反射镜3、标准样品4、被测样品5、第一CCD探测器6和第二CCD探测器7;所述第一激光器1.1和第二激光器1.2发出不同波长的单色光,且发出的光线互相平行;所述标准样品4和被测样品5为形状尺寸相同的长方体形;第一、二激光器1.1、1.2发出的光的一部分透过所述平板玻璃2后再透过所述标准样品4在第一CCD探测器6上形成第一光斑和第二光斑,另一部分被所述平板玻璃2反射后再被平面反射镜3反射,之后透过平板玻璃2再透过所述被测样品5后在第二CCD探测器7上形成第三光斑和第四光斑;所述平面反射镜3和平板玻璃2平行,所述第一、二激光器1.1、1.2发出的光线和平板玻璃2呈45度角;测量装置还包括控制器,当第一光斑和第二光斑之间的距离与第三光斑和第四光斑之间的距离不同时,控制器判断被测样品不合格。第一激光器发出的光的波长大于第二激光器发出的光的波长。第一、二CCD探测器6、7均为面阵CCD探测器。第一、二CCD探测器6、7的感光面与所述平板玻璃平行。测量装置还包括显示器,当第一光斑和第二光斑之间的距离与第三光斑和第四光斑之间的距离不同时,控制器利用显示器提示被测样品不合格。

本发明的测量装置,将标准样品和被测样品放置在相应的位置,如果被测样品合格,那么第一、二光斑之间的距离和第三、四光斑之间的距离应该是相等的。如果被测样品的折射率不合格,那么第一、二光斑之间的距离和第三、四光斑之间的距离会不同,那么表明被测样品不合格。

尽管本发明就优选实施方式进行了示意和描述,但本领域的技术人员应当理解,只要不超出本发明的权利要求所限定的范围,可以对本发明进行各种变化和修改。

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