[发明专利]面板检测单元、阵列基板及液晶显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种液晶显示器技术，特别涉及一种面板检测单元、一种包含该面板检测单元的阵列基板以及一种包含该面板阵列基板的液晶显示装置。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)的主体结构包括液晶面板和背光模组，液晶面板包括阵列基板、彩膜基板以及设置在其间的液晶盒。

在显示器的制作过程中，LCD光板在绑定IC前，需要对液晶盒进行点灯检测，筛选出不良产品，防止其进入下一步的工序，以减少后续制程的浪费。阵列基板上设置有与单色数据线一一对应的信号线，液晶盒检测(celltest)时，通过与每条信号线对应的引针/引线(pin)输入检测信号，检测信号相同的信号线与同一条短路线短接。

现有技术中，在RGB液晶显示器加工工艺中的面板检测单元，如图1所示，一般包括三条(R/G/B)短路线(shortingbar)111、112、113，分别通过引线连接至三条像素信号线211、212、213，在液晶盒检测(celltest)阶段用来点亮白色/纯红/纯绿/纯蓝画面，以检查面板的显示质量，从而判断像素信号线是否有断路或缺陷，在完成测试后，利用激光切断该短路线(测试线)与信号线的连接(lasercut)。

由于通过上述液晶显示面板的测试线路在检测液晶显示面板之后，需利用激光来切断测试线，因而必须有一道激光切割的制程。制程较多，就会降低液晶显示面板的生产效率；激光切割过程中有可能切坏面板，从而影响产品的良率；而生产效率的降低、产品良率降低都会提高液晶面板的生产成本。因此，在生产实践中，如何能尽可能地减少工艺中的制程，从而提高生产效率和降低生产成本是每个研发人员必须要考虑的问题。

发明内容

本发明的目的在于，解决现有的液晶显示器生产工艺中所存在的制程较多、生产效率较低、生产成本较高等技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种面板检测单元，包括：至少一短路线组，每一短路线组包括至少一短路线；至少一信号线组，每一信号线组包括至少一信号线；其中，任一信号线通过一二极管连接至与该信号线相应的一短路线。所述短路线组包括至少一第一短路线组和/或至少一第二短路线组；所述信号线组包括至少一第一信号线组和/或至少一第二信号线组。

进一步地，所述第一短路线组包括一第一短路线、一第二短路线以及一第三短路线。所述第一信号线组包括：一R像素信号线，通过一二极管连接至所述第一短路线；该二极管正极连接至第一短路线，其负极连接至所述R像素信号线；一G像素信号线，通过一二极管连接至所述第二短路线；该二极管正极连接至第二短路线，其负极连接至所述G像素信号线；以及一B像素信号线，通过一二极管连接至所述第三短路线；该二极管正极连接至第三短路线，其负极连接至所述B像素信号线。

进一步地，所述第二短路线组包括一第四短路线以及一第五短路线。所述第二信号线组包括：一Odd信号线，通过一二极管连接至所述第四短路线；该二极管正极连接至所述第四短路线，其负极连接至所述Odd信号线；以及一Even信号线，通过一二极管连接至所述第五短路线；该二极管正极连接至所述第五短路线，其负极连接至所述Even信号线。

进一步地，所述二极管为肖特基二极管。

为实现上述目的，本发明提供一种阵列基板，包括：一显示区，其内设有液晶以及至少一数据线组；以及一非显示区，设置于所述显示区周围，其内设有至少一上述的面板检测单元。所述数据线组包括：一R像素数据线，连接至所述R像素信号线；一G像素数据线，连接至所述G像素信号线；一B像素数据线，连接至所述B像素信号线；一Odd数据线，连接至所述Odd信号线；以及一Even数据线，连接至所述Even信号线。

为实现上述目的，本发明提供一种液晶显示装置，包括上述的阵列基板。

本发明的优点在于，本发明提出一种新的技术方案，在信号线与短路线(测试线)之间安装一个单向导通的二极管，在完成测试后，无需再进行激光切割的制程，直接可以进行下一步的加工处理，从而减少加工成本，提高生产效率。

附图说明

图1所示为现有技术中一RGB面板检测单元的结构示意图；

图2所示为本发明一实施例中面板检测单元的结构示意图；

图3所示为本发明一实施例中一阵列基板的整体结构示意图；

图4所示为图3中第一短路线组与像素数据线组的局部放大图；

图5所示为图3中第二短路线组与奇偶数据线组的局部放大图；

图6所示为本发明一实施例中一液晶显示装置的结构示意图。