[发明专利]检测系统和检测方法在审
申请号: | 201610297237.X | 申请日: | 2016-05-06 |
公开(公告)号: | CN107346068A | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 上海纪显电子科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200233 上海市徐汇*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 系统 方法 | ||
1.一种检测系统,用于检测透明电路基板,该透明电路基板具有两侧,且在该电路基板上布置有电路图案,包括:
垂直型液晶显示器件,设置在该透明电路基板的一侧,用于显示该透明电路基板的电路检测图案;
背光源,设置在该透明电路基板的另一侧,用于透过该透明电路基板为该液晶显示器件提供均匀背光。
2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,该垂直电场型液晶显示器件,由下至上依次包括:第一基板,第一配向膜,液晶层,第二配向膜,公共电极层,第二基板,其中,该第一基板和该第二基板彼此相向对置,液晶层,夹设于该第一基板和该第二基板之间,施加垂直电场时液晶分子在垂直方向上旋转透光。
3.根据权利要求2所述的检测系统,其特征在于,通过对该液晶层两侧的该透明电路基板上的电路图案和该垂直型液晶显示器件上的公共电极层施加电压产生垂直电场,使该液晶显示器件显示电路检测图案。
4.根据权利要求2所述的检测系统,其特征在于,还包括第一偏光片和第二偏光片,分别配置在相向对置的该第一基板和该第二基板的外侧表面上。
5.根据权利要求2所述的检测系统,其特征在于,还包括第一偏光片和第二偏光片,该第一偏光片配置在该背光源的光源出射一侧表面上,该第二偏光片配置在该第二基板的外侧表面上。
6.根据权利要求2所述的检测系统,其特征在于,还包括第一偏光片和第二偏光片,该第一偏光片间隔配置在该背光源与该透明电路基板之间,该第二偏光片间隔配置在该第二基板的外侧。
7.根据权利要求1-6之一所述的检测系统,其特征在于,还包括图像采集装置,布置在该液晶显示器件的显示检测图案一侧。
8.一种检测方法,用于检测透明电路基板,该透明电路基板具有两侧,且在该电路基板上布置有电路图案,包括:
提供垂直电场型液晶显示器件,设置在该透明电路基板的一侧,用于显示该透明电路基板的电路检测图案;
提供背光源,设置在该透明电路基板的另一侧,用于透过该透明电路基板为该液晶显示器件提供背光。
9.根据权利要求9所述的检测方法,其特征在于,
在该电路图案不施加电压时,该液晶显示器件显示全黑画面或全白画面;
在对该电路图案施加电压时,该液晶显示器件显示电路检测画面;
将该检测画面与标准画面对比,判断该透明电路基板的电路图案是否正常。
10.根据权利要求9所述的检测方法,其特征在于,
提供图像采集装置,布置在该液晶显示器件的显示检测图案一侧,用于采集该电路检测画面;
提供计算机装置,用于将输入的该电路检测画面与标准检测画面对比,判断该透明电路基板的电路图案缺陷所在的位置。
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