[发明专利]基于透射式液晶空间光调制器波前校正的方法及装置有效
| 申请号： | 201610273347.2 | 申请日： | 2016-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN105785609B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 付跃刚;徐宁;林函;张光宇;王华林 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人： | 王丹阳 |
| 地址： | 130022 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 透射 液晶 空间 调制器 校正 方法 装置 | ||
1.基于透射式液晶空间光调制器波前校正的方法，其特征是，该方法包括以下步骤：
步骤一，将液晶空间光调制器(2)放入ZYGO干涉仪(9)和反射镜(3)之间，并且在ZYGO干涉仪(9)和液晶空间光调制器(2)之间加入偏振片(1)，调节液晶空间光调制器(2)在ZYGO干涉仪(9)和反射镜(3)之间的位置，当控制器(10)显示3-5条稳定、清晰的干涉条纹时，记录数据显示单元(11)显示的信息；数据显示单元(11)显示的数据有泽尼克多项式的系数；将灰度值255分成52等分，把从0开始每增加5个灰度值的灰度图加载到透射式液晶空间光调制器(2)并用ZYGO干涉仪(9)进行一次测量，最终测得透射式液晶空间光调制器(2)相位与灰度关系图；
步骤二，将透镜(6)放入ZYGO干涉仪(9)和反射镜(3)之间，调节透镜(6)在ZYGO干涉仪(9)和反射镜(3)之间的位置，当控制器(10)显示3-5条稳定、清晰的干涉条纹时，记录数据显示单元(11)的数据；数据显示单元(11)显示的数据有泽尼克多项式的系数和透镜的波前图；
步骤三，把步骤二中获得的泽尼克多项式的系数正取负、负取正，将共轭变换后的泽尼克多项式系数输入Mablab内置的泽尼克函数便可绘图得到8位灰度图；
步骤四，将步骤三中得到的8位灰度图显示到PC(8)上；
步骤五，将孔径光阑(4)、滤光片(5)、偏振片(1)、透射式液晶空间光调制器(2)、透镜(6)和CMOS传感器(7)同轴依次排列，CMOS传感器(7)与PC(8)相连，CMOS传感器(7)用于接收图像传输到PC(8)中，透射式液晶空间光调制器(2)与驱动电路(12)相连，驱动电路(12)用于给透射式液晶空间光调制器(2)供电且传输信息，驱动电路(12)与PC(8)相连；然后将步骤三中得到的8位灰度图输入于透射式液晶空间光调制器(2)上，可完成透射式液晶空间光调制器波前校正的操作。
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