[发明专利]一种非线性预四极杆

说明书

技术领域

本发明涉及质谱检测领域，尤其涉及一种质谱仪中的预四极杆。

背景技术

目前四极质量分析器采用的是传统轴向设计，即四根直预四极杆与四根主四极杆采用的是同轴连接（图1所示），此种带有直预四极杆的质量分析器虽可一定程度上减少主四极杆的污染，但无法消除和减少从离子源出来的中性粒子通过分析四极杆，图1所示中有大量中性粒子（玫红色点表示）通过分析四极杆；因此在仪器使用过程中，如果想降低中性粒子产生的噪音，采取的方法就是降低离子源透镜的电位，但这种方法也会造成离子强度下降，影响仪器灵敏度，因此需要寻找一种既不会降低离子源透镜电位，又能够降低中性粒子产生的噪音的方法。

发明内容

本发明的目的是为了解决上述技术问题而提供一种非线性预四极杆，可以根据电场对带电粒子和中性粒子不同的影响，设置一种具有非线性结构的器件，使得中性粒子可以以原有轨迹射出，由此可以在不降低离子源透镜的电位的情况下，降低中性粒子产生的噪音，由此，本发明提供了一种非线性预四极杆，包括具有2n个金属杆且两两相对导通的金属杆组件、固定环，所述金属杆组件固定安装在所述固定环，所述金属杆组件具有非线性结构。

根据背景技术中对现有技术所述，目前四极质量分析器采用的是传统轴向设计，即四根直预四极杆与四根主四极杆采用的是同轴连接（图1所示），此种带有直预四极杆的质量分析器虽可一定程度上减少主四极杆的污染，但无法消除和减少从离子源出来的中性粒子通过分析四极杆；而本发明公开的非线性预四极杆，可以在不改变透镜电位的情况下，使得沿原有轨迹运动的中性粒子无法进行非线性运动，如此条件下无法形成弯曲运动轨迹，进而无法到达检测器，从而可以直接降低和消除中性粒子引起的噪音，同时又不影响离子强度，所以能形成好的检测精度。

另外，根据本发明公开的测量仪还具有如下附加技术特征：

进一步地，所述非线性结构为弯曲结构。

简单的弯曲结构在制作和使用上更加便捷，优选地，具有弧度的弯曲结构。

更进一步地，所述弯曲结构的弯曲角度为大于等于5度小于等于60度。

优选地，所述弯曲结构的弯曲角度为大于等于11.4度小于等于11.7度。

进一步地，所述非线性预四极杆还包括导电插针，所述导电插针联接在所述金属杆外侧，所述金属杆安装在所述固定环内侧并成均匀分布。

导电插针为导电性良好的圆柱形金属杆，起连接外路电压的作用，均匀分布的金属杆所形成的电场也是均匀的，有利于带电粒子的规则运动。

进一步地，所述金属杆组件中两两相对且平行的所述金属杆相互导通。

进一步地，所述n为自然数。

更进一步地，所述n为1或2或3或4或5或6。

优选地，n为2或3或4。

进一步地，所述非线性预四极杆还包括联接部件，所述联接部件联接所述金属杆组件中的所述金属杆和所述固定环。

更进一步地，所述联接部件和所述固定环之间的联接为激光焊接结构。

更进一步地，所述联接部件和所述金属杆之间的联接为激光焊接结构。

更进一步地，所述固定环具有设置有2n等份且相互彼此绝缘的分离金属层的上端面和设置有整体金属层的下端面，所述固定环包括第一固定环和第二固定环，所述金属杆组件包括多个两两相对的上金属杆和下金属杆，所述联接部件通过和所述第一固定环上的所述分离金属层联接的所述上金属杆和所述第二固定环的所述整体金属层联接，进一步和与所述第二固定环上的所述整体金属层联接的所述下金属杆联接导通。

更进一步地，所述分离金属层或所述整体金属层厚度大于等于0.3mm且小于等于0.6mm。

进一步地，所述固定环采用陶瓷材料。

优选地，所述陶瓷材料环为氧化铝陶瓷环。

进一步地，所述非线性结构设置在所述金属杆组件的1/2处或1/3处或2/3处或1/4处或3/4处。

优选地，所述非线性结构设置在所述金属杆组件的1/2处。

进一步地，所述金属杆组件为不锈钢结构。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

附图1为本发明的现有技术结构示意图；

附图2为本发明现有技术中性粒子通过分析四极杆的入射图；