[发明专利]一种新型底栅结构的柔性薄膜晶体管及其制备方法在审
| 申请号: | 201610182132.X | 申请日: | 2016-03-25 |
| 公开(公告)号: | CN105742369A | 公开(公告)日: | 2016-07-06 |
| 发明(设计)人: | 魏雄邦;全勇;肖伦;陈志;刘腾飞;庞韩英 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
| 主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336;H01L29/06 |
| 代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 吴姗霖 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 新型 结构 柔性 薄膜晶体管 及其 制备 方法 | ||
1.一种新型底栅结构的柔性薄膜晶体管,自下而上依次为柔性衬底、栅电极、绝缘层、有源层和源漏电极,所述栅电极和源漏电极为银纳米线薄膜,所述绝缘层为PMMA薄膜。
2.根据权利要求1所述的新型底栅结构的柔性薄膜晶体管,其特征在于,所述柔性衬底为聚二甲基硅氧烷、聚酰亚胺、聚偏氟乙烯、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚乙烯醇、聚乙烯醇缩甲醛、聚乙烯。
3.根据权利要求1所述的新型底栅结构的柔性薄膜晶体管,其特征在于,所述有源层为IGZO薄膜、ITZO薄膜、IAZO薄膜。
4.根据权利要求1所述的新型底栅结构的柔性薄膜晶体管,其特征在于,所述柔性衬底的厚度为0.2~0.3mm,所述栅电极的厚度为80~100nm,所述绝缘层的厚度为500~800nm,所述有源层的厚度为70~100nm,所述源漏电极的厚度为80~100nm。
5.根据权利要求1所述的新型底栅结构的柔性薄膜晶体管,其特征在于,所述柔性衬底采用旋涂法制备,所述栅电极采用喷涂法或旋涂法制备,所述绝缘层采用喷涂法或旋涂法制备,所述有源层采用溅射法制备,所述源漏电极采用喷涂法或旋涂法制备。
6.一种新型底栅结构的柔性薄膜晶体管的制备方法,包括以下步骤:
步骤1:制备柔性衬底,清洗备用;
步骤2:在步骤1得到的柔性衬底上制备银纳米线薄膜,作为栅电极;
步骤3:在步骤2得到的栅电极上制备聚甲基丙烯酸甲酯,作为绝缘层;
步骤4:在步骤3得到的绝缘层上采用磁控溅射法制备有源层;
步骤5:在步骤4得到的有源层上制备银纳米线薄膜,作为源漏电极。
7.根据权利要求6所述的新型底栅结构的柔性薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,步骤1所述柔性衬底为聚二甲基硅氧烷、聚酰亚胺、聚偏氟乙烯、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚乙烯醇、聚乙烯醇缩甲醛、聚乙烯;其中,制备聚二甲基硅氧烷柔性衬底的具体过程为:将聚二甲基硅氧烷主剂和硬化剂按质量比10:1的比例混合,在0.1Torr的真空环境下放置10~30min,得到聚二甲基硅氧烷旋涂液;然后在硅烷化处理后的玻璃基片上旋涂上述聚二甲基硅氧烷旋涂液;最后将旋涂后的带聚二甲基硅氧烷的玻璃基片在60~80℃温度下干燥1~3h进行固化成型,将固化成型后的聚二甲基硅氧烷薄膜剥离下,进行等离子体氧处理使其表面亲水,即可得到厚度为0.2~0.3mm的聚二甲基硅氧烷柔性衬底。
8.根据权利要求6所述的新型底栅结构的柔性薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,步骤2所述银纳米线薄膜栅电极的制备过程具体为:首先,采用液相多元醇合成法制备银纳米线混合液,在得到的银纳米线混合液中加入体积为银纳米线混合液3~5倍的丙酮后混合均匀,然后离心分离,得到的银纳米线取出后加入乙醇、丙酮或去离子水分散溶剂中,超声得到稳定的银纳米线分散液,所述银纳米线分散液的质量浓度为5~10mg/mL;将上步得到的银纳米线分散液加入喷墨打印机中,将步骤1清洗后的柔性衬底放在加热台上,调节加热台的温度为80~120℃,喷涂银纳米线,即可在柔性衬底上得到图案化的银纳米线薄膜,然后在120℃温度下退火1~2h,即可得到厚度为80~100nm的银纳米线栅电极。
9.根据权利要求6所述的新型底栅结构的柔性薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,步骤3所述PMMA绝缘层的制备过程具体为:首先配制聚甲基丙烯酸甲酯喷涂液,采用聚甲基丙烯酸甲酯作为溶质,苯甲醚或三氯甲烷作为溶剂,配制得到质量浓度为100mg/mL的聚甲基丙烯酸甲酯喷涂液;将上述聚甲基丙烯酸甲酯喷涂液加入喷墨打印机中,将步骤2得到的带栅电极的柔性衬底放在加热台上,调节加热台的温度为80~100℃,喷涂聚甲基丙烯酸甲酯,即可在栅电极上得到PMMA,然后在100~120℃温度下退火1~2h,得到厚度为500~800nm的PMMA薄膜,即为绝缘层。
10.根据权利要求6所述的新型底栅结构的柔性薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,步骤4所述有源层为IGZO薄膜、ITZO薄膜、IAZO薄膜,其中,采用磁控溅射法制备IGZO薄膜时,溅射靶材为摩尔比In:Ga:Zn=1:1:1的金属靶材,溅射温度为20~50℃,溅射电压为210~240V的直流电压,溅射气氛为氧气和氩气的混合气体,所述氧气与氩气的流量比为(1~10):100,溅射气压为2~4mTorr,溅射得到的IGZO薄膜的厚度为70~100nm。
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