[发明专利]一种用于痕量水荧光检测的稀土有机框架材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201610169056.9 申请日: 2016-03-23
公开(公告)号: CN105753891B 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 崔元靖;夏体锋;朱逢亮;郁建灿;杨雨;钱国栋 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: C07F5/00 分类号: C07F5/00;C09K11/06;G01N21/64
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司33200 代理人: 韩介梅
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 痕量 荧光 检测 稀土 有机 框架 材料 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种稀土有机框架材料用于痕量水荧光检测的应用,其特征在于所述稀土有机框架材料为有序微孔的晶态材料,其结构通式为[(CH3)2NH2]2[Ln63-OH)8(L-NH2)6(H2O)6]·(G)7,式中Ln为Eu3+、Tb3+或Gd3+,L-NH2是结构式为(a)的2-氨基对苯二甲酸,结构式为(b)的2,5-二氨基对苯二甲酸或结构式为(c)的2,3,5,6-四氨基对苯二甲酸:

G代表孔道内的溶剂。

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