[发明专利]一种LED灯具系统可靠性的评价方法

说明书

本发明公开了一种LED灯具系统可靠性的评价方法，其特征在于，包含有，步骤S1，提供LED灯具样品；步骤S2，确定所述LED灯具样品的可靠性试验项目类型；步骤S3，确定其对应的试验时间、点灯时间、加速因子及等效点灯时间；步骤S4，得到LED灯具样品的失效率；步骤S5，得到LED灯具样品的可靠度水平，进而得到不同样品数、不同失效次数和不同置信水平对于LED灯具样品关于声称寿命下的可靠度水平曲线；以及，步骤S6，判断企业声称寿命是否可以接受。本发明考虑LED灯具的可靠性试验项目以及试验参数对LED灯具系统的可靠度的影响，为评价LED灯具系统的可靠性提供新的途径。

技术领域

本发明涉及LED灯具的检测，尤其涉及一种LED灯具系统可靠性的评价方法。

背景技术

随着国家大力倡导节能减排和低碳环保，半导体照明因其本身的技术优势受到越来越多的关注，并且当前全球都进入了“禁白行动”的稳步推动期，所以LED为主体的半导体照明产品将会大行其道。全球半导体照明产品预期市场占有率将在2020年达到60-75％以上，而且随着技术的不断成熟和产品的规模效应，半导体照明产品的价格将会大幅度下降。

然而，日益激烈的市场竞争和同质化引起的价格战造成了产品良莠不齐，如果任由劣质产品流通市场，必将会损害消费者的利益，产品质量参差不齐也会影响LED产业的持续发展。由此可见，质量问题已经是制约LED照明产品普及的关键因素，而LED灯具样品的可靠性问题更是成为了急需解决的共性质量问题。

作为半导体照明的主流终端产品，LED灯具系统比较复杂，包含了材料学、光学、机械、电子和计算机软件等多学科交叉内容。LED灯具系统的主要元部件包括：LED封装器件及模组、电子组件、光学材料、散热系统和结构材料等。要对整个LED灯具系统进行可靠性的评价，就需要对LED灯具建立适当的可靠性试验项目，利用科学合理的方法进行验证。目前有对LED器件进行光通流明维持试验推算其寿命的方法(IES LM-80)，也有对灯具采用光通流明维持试验的(IES LM-84)，但是对整个LED灯具系统来说，缺乏对其可靠性统一的评价方法。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中的问题，提供一种新型的LED灯具系统可靠性的评价方法。

为了实现这一目的，本发明的技术方案如下：一种LED灯具系统可靠性的评价方法，包含有，

步骤S1，提供LED灯具样品，LED灯具样品对应有一企业声称寿命；

步骤S2，根据LED灯具样品的产品类型及用途，确定所述LED灯具样品的可靠性试验项目类型；

步骤S3，根据可靠性试验项目类型，确定其对应的试验时间、点灯时间、加速因子及等效点灯时间；

步骤S4，根据LED灯具样品的平均故障时间MTBF与样品数量、等效点灯时间、失效次数和置信水平之间的关系，得到LED灯具样品的失效率；

步骤S5，根据LED灯具样品的可靠度水平、LED灯具样品失效率、声称寿命三者之间的关系，得到LED灯具样品的可靠度水平，进而得到不同样品数、不同失效次数和不同置信水平对于LED灯具样品关于声称寿命下的可靠度水平曲线；以及，

步骤S6，根据可靠度水平曲线对LED灯具样品进行可靠性评价，判断企业声称寿命是否可以接受。

作为一种LED灯具系统可靠性的评价方法的优选方案，可靠性试验项目类型包含有温度循环试验，温度循环试验：

试验温度的低温极端值为-10℃，高温极端值为+50℃，以4小时为一个循环周期，循环次数为250次；进一步地，所述循环周期包含有在高温极端值下的保持时间1小时、由高温极端值逐步至低温极端值的转换时间1小时、在低温极端值下的保持时间1小时及由低温极端值逐步至高温极端值的转换时间1小时；再进一步地，转换时间内的升降温速率为1℃/分钟；

试验时间为1000小时；