[发明专利]放射线检测装置、放射线成像系统和制造方法有效
申请号: | 201610147423.5 | 申请日: | 2016-03-15 |
公开(公告)号: | CN105989906B | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 石田阳平 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G21K4/00 | 分类号: | G21K4/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 曾琳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 检测 装置 成像 系统 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于放射线检测的放射线检测装置、放射线成像系统和制造方法。
背景技术
存在包括闪烁体层的放射线检测装置,该闪烁体层具有形成在传感器基板上的柱状晶体。要求这样的放射线检测装置通过在保持成像的锐度的同时高效地吸收发射的放射线来改进使用效率。换句话说,有必要改进放射线检测元件的DQE(检测用量子效率)和MTF(调制传递函数)两者。
日本专利公开No.2002-48870公开了一种放射线检测器,在该放射线检测器中,布置了多个成像基板,每个成像基板具有闪烁体。在日本专利公开No.2002-48870中,闪烁体层形成在每个基板上,以使得当布置复数个成像基板时它一直延伸到相邻基板的边界,并且基板被布置为防止闪烁体的分辨率降低和分离。日本专利No.4447752公开了一种放射线检测器,该放射线检测器被配置为通过形成覆盖多个成像基板的透明膜并且在该透明膜上形成闪烁体来防止结点附近的分辨率降低和分离。
发明内容
本发明提供一种放射线检测装置,该放射线检测装置具有有利于改进MTF和DOE并且防止闪烁体层分离的结构。
本发明的第一方面,本发明提供一种放射线检测装置,该放射线检测装置包括传感器底座、传感器基板、外周构件以及闪烁体层,传感器基板由传感器底座支承,并且被配置为从多个像素输出信号以供放射线检测,外周构件与传感器基板分开地布置在传感器基板的侧表面的外周上,由传感器底座支承,并且被配置为不输出用于放射线检测的信号,闪烁体层被配置为连续地覆盖传感器基板和外周构件。
本发明的第二方面,本发明提供一种放射线成像装置,该放射线成像装置包括放射线源、传感器底座、传感器基板、外周构件以及闪烁体层,放射线源被配置为产生放射线,传感器基板由传感器底座支承,并且被配置为从多个像素输出信号以供放射线检测,外周构件与传感器基板分开地布置在传感器基板的侧表面的外周上,由传感器底座支承,并且被配置为不输出用于放射线检测的信号,闪烁体层被配置为连续地覆盖传感器基板和外周构件。
本发明的第三方面,本发明提供一种制造放射线检测装置的方法,该方法包括:将传感器基板和外周构件放置在传感器底座上,外周构件与传感器基板分开地布置为与传感器基板的侧表面相邻,并且被配置为不输出用于放射线检测的信号;形成闪烁体层,以连续地覆盖传感器基板和外周构件。
从以下参照附图对示例性实施例的描述,本发明的进一步的特征将变得清楚。
附图说明
图1A和1B分别是根据实施例的放射线检测装置的示意性顶视图和示意性截面图;
图2A和2B是示出根据实施例的外周构件的布置的示意图;
图3是根据实施例的传感器面板的边缘的示意性截面图;
图4A至4D是示出根据实施例的制造传感器面板的方法的示意图;
图5是根据比较例子的传感器面板的示意性截面图;
图6是根据实施例的传感器面板的示意性截面图;
图7是根据实施例的传感器面板的示意性截面图;
图8是根据实施例的传感器面板的示意性截面图;以及
图9是示出根据实施例的放射线成像系统的布置的视图。
具体实施方式
现在将参照附图来详细地描述根据本发明的实施例的放射线检测装置。该放射线检测装置包括检测放射线的传感器面板。传感器面板是包括传感器基板和闪烁体的器件,传感器基板由按矩阵布置的光电转换元件和开关元件形成,闪烁体将放射线转换为可见光。注意,在本说明书中,放射线不仅包括X射线,而且还包括诸如α射线、β射线和γ射线的电磁波。
<第一实施例>
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