[发明专利]一种阵列基板、显示器和测试系统有效

专利信息
申请号: 201610132454.3 申请日: 2016-03-09
公开(公告)号: CN105549289B 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 李安石 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/1345;G09G3/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 430070 湖北省武汉市武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 显示器 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种阵列基板,其特征在于,包括:

若干组阵列基板行驱动GOA单元和简化GOA单元,以及若干个像素电路;其中,每组GOA单元和简化GOA单元并联连接,且简化GOA单元的输出端与对应的像素电路中薄膜晶体管TFT的栅极电连接;

简化GOA单元用于从正向时钟信号输入端接收第一时钟信号,以及从反向时钟信号输入端接收第二时钟信号,根据所述第一时钟信号和所述第二时钟信号在所述输出端输出调节电压。

2.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,简化GOA单元不包括安全保护电路。

3.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,每组简化GOA单元和GOA单元的正向时钟信号输入端和反向时钟信号输入端相连的信号线是分离的。

4.如权利要求1-3任意一项所述的阵列基板,其特征在于,GOA单元为移位寄存器。

5.一种显示器,其特征在于,包括如权利要求1-4任意一项所述的阵列基板。

6.一种测试系统,其特征在于,包括:如权利要求1-4任意一项所述的阵列基板、测试装置、切割装置和加热装置;

所述测试装置,用于测量像素电路的阈值电压,若所述阈值电压不满足预设条件,向对应的简化GOA单元的正向时钟信号输入端输入第一时钟信号,以及向所述简化GOA单元的反向时钟信号输入端输入第二时钟信号;

所述切割装置,用于当所述像素电路中TFT的阈值电压恢复所述预设条件时,废弃所述简化GOA单元;

所述加热装置,用于将所述阵列基板加热并保持到指定温度。

7.如权利要求6所述的测试系统,其特征在于,所述切割装置具体用于采用激光切割的方法切断与所述简化GOA单元的正向时钟信号输入端和反向时钟信号输入端的信号线。

8.如权利要求6或7所述的测试系统,其特征在于,所述测试装置具体用于测量所述像素电路的阈值电压,若所述阈值电压大于预设值,指示所述简化GOA单元输出正电压;若所述阈值电压小于预设值,指示所述简化GOA单元输出负电压。

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