[发明专利]一种PCB切片的检测方法

说明书

技术领域：

本发明涉及一种PCB制作工艺，特别是对于提高PCB切片的检 测效率的一种方法。

背景技术：

传统的PCB切片检测，包括以下顺序步骤：装样品模型；将样品 底部磨平，垂直放入模型中；将装有样品的模型注入胶，凝固后取出； 进行打磨分析。

因为样品放入模块中，取样孔因与样品底部的高度及底部平整 度不同，打磨会造成某些样品取样孔已打磨好，而有些还没有磨到， 有些取样品放正，有些样品歪掉，造成一个模型不能同时满足多个样 品同时打磨，需一个模型一个样品。这样针对同一产品多次切片打磨 而且一批次样品同时测试及对比测试，非常不方便。

发明内容：

本发明正是为了解决上述技术问题，提供了一种提高PCB切片 的检测效率的方法。

所述PCB切片的检测方法包括以下步骤：

a)取相同形状PCB预设样品切片至少两件；

b)切片上对应位置设置至少两个辅助孔；

c)切片叠放后，在每个辅助孔内设置固定轴，制作成样品 模型组；

d)将样品模型组灌胶，等待胶体凝固；

e)打磨灌胶凝固后的样品模型组并检测。

所述每件切片上设置有待检测的取样孔。

所述辅助孔及设置在辅助孔内的固定轴距离取样孔至少2mm距 离。

所述辅助孔孔径为0.75‐1.0mm。

所述固定轴形状与辅助孔相适配。

所述固定轴与辅助孔过盈配合。

所述固定轴为铅芯材质轴。

所述叠放的切片之间间距为1‐2mm。

本发明通过优化PCB切片结构，使得PCB切片在检测时候，通过 固定轴将切片们相互固定，然后对其灌胶凝固后形成样品模型组。通 过打磨模型组观察取样孔，使得切片改变传统的单一打磨，形成批次 对比，节省模型制作时间以及打磨时间，并且方便更加清晰进行比对。

附图说明：

图1为一种切片方式的示意图；

切片1、辅助孔2、取样孔3、固定轴4。

具体实施方式：

如图1所示，一种PCB切片检测用切片1，切片1至少为两片。 切片预设形状形状优选方形，也可以为圆形或条形。切片上设置有由 待检测的取样孔3构成的取样区域。切片1呈方形，在方形相对对角 处设置有至少一对辅助孔2，辅助孔2内设置有固定轴4.固定轴4过 盈配合在辅助孔2内。固定轴4穿过叠合的至少两块切片1。固定轴 4选用铅芯，方便过盈配合时穿过辅助孔2且提供一定阻尼。辅助孔 2及设置在辅助孔2内的固定轴4距离取样孔3至少2mm距离。辅 助孔2孔径为0.75‐1.0mm。

将穿有固定轴4的至少2个切片1形成的样品，装入预设好的容 器中，向容器倒入胶体，胶体凝固后取出容器得到灌胶后的样品模型 组。对样品模型组进行打磨，打磨时候可将切片一起打磨至取样孔3 露出，可以观察取样孔3内情况。由于切片1之间距离预设1‐2mm 间距，可以清晰的看到不同切片之间取样孔的状况以及对不同切片取 样孔对比分析。