[发明专利]一种电解电容的在路测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子电路技术领域，具体地，涉及一种电解电容的在路测试装置及方 法。

背景技术

电子设备，是指由集成电路、晶体管、电子管等电子元器件组成，应用电子技术 甚至软件发挥作用的设备。

电解电容作为一种电气元器件，其中，金属箔(例如：铝或钽)为正极，与正极 紧贴金属的氧化膜(例如：氧化铝或五氧化二钽)是电介质，负极由导电材料、电解 质(可以是液体或固体)和其他材料共同组成；电解电容的正、负极不可接错。

众所周知，电解电容是电子设备中故障率最高、寿命和可靠性最差的元件之一， 而电解电容的寿命在很多时候决定了电子设备的使用寿命。长久以来，广大电子工程 师普遍缺乏一种有效判别电解电容好坏以及查看电解电容属性参数的检测工具。

现有技术中，存在测量难度大、可靠性低和影响设备正常使用等缺陷。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述缺陷，提出一种电解电容的在路测试装置及方法， 以实现电解电容的在路测试。

本发明一方面提供一种电解电容的在路测试装置，包括：放电检测单元、参数检 测单元和数据处理单元，其中，所述放电检测单元，被配置为：对在路的待测电解电 容进行放电处理，以确定所述电解电容放电完成；所述参数检测单元，连接于所述放 电检测单元，且被配置为：在所述电解电容放电完成后，对所述电解电容进行检测处 理，以获取相应参数；所述数据处理单元，连接于所述参数检测单元，且被配置为： 基于获取的所述参数，进行数据处理，以获取用户所需参数值。

优选地，所述放电检测单元，包括：放电电阻和指示灯，其中，所述放电电阻， 被配置为：对所述电解电容进行放电处理，且其阻值与所述电解电容的容量适配；所 述指示灯，连接于所述放电电阻，且被配置为：当所述电解电容通过所述放电电阻放 电完成时，显示第一状态；否则显示第二状态。

优选地，所述放电电阻，具有阻值调节档位，以在放电处理时根据所述电解电容 的容量适配地调节其阻值。

优选地，所述参数检测单元，包括：漏电流检测支路和/或容量检测支路和/或阻 抗检测支路和/或损耗角正切值检测支路，其中，所述漏电流检测支路，被配置为：当 所述参数包括漏电流时，对所述电解电容的漏电流进行检测；所述容量检测支路，被 配置为：当所述参数包括容量时，对所述电解电容的容量进行检测；所述阻抗检测支 路，被配置为：当所述参数包括阻抗时，对所述电解电容的阻抗进行检测；所述损耗 角正切值检测支路，被配置为：当所述参数包括损耗时，对所述电解电容的损耗角正 切值进行检测。

优选地，所述漏电流检测支路，包括：串电阻检测电路，且所述串电阻检测电路 被配置为：基于串电阻检测电路电流法检测所述电解电容的漏电流；和/或，所述容量 检测支路和所述损耗角正切值检测支路，均包括：电桥，且所述电桥被配置为：基于 电桥测试原理检测所述电解电容的容量和/或损耗角正切值；和/或，所述阻抗检测支 路，包括：谐波注入电路和电量检测电路；其中，所述谐波注入电路，被配置为：向 所述电解电容的阻抗注入预设频率的测试信号；所述电量检测电路，被配置为：基于 注入的所述测试信号，检测所述电解电容所在电路中的电量变化信息。

优选地，所述数据处理单元，包括：MUC和电源，其中，所述MUC，连接于所 述参数检测单元，且被配置为：基于获取的所述参数，进行运算，以获取用户所需参 数值；所述电源，连接于所述MUC，以进行供电。

优选地，所述数据处理单元，还包括：显示屏，其中，所述显示屏，连接于所述 MUC，且被配置为对所述MUC的运算过程和/或获取的所述参数值进行显示和/或输 出。

与上述装置相匹配，本发明另一方面提供一种电解电容的在路测试方法，包括： 基于以上所述的电解电容的在路测试装置，对所述电解电容进行在路测试。

优选地，对所述电解电容进行在路测试，包括：1)对在路的所述电解电容进行 放电处理，以确定所述电解电容放电完成；2)在所述电解电容放电完成后，对所述 电解电容进行检测处理，以获取相应参数；3)基于获取的所述参数，进行数据处理， 以获取用户所需参数值。