[发明专利]支持多通道主控并发的CE NAND Flash的页模型构建方法及页模型在审

专利信息
申请号: 201610104857.7 申请日: 2016-02-26
公开(公告)号: CN105786406A 公开(公告)日: 2016-07-20
发明(设计)人: 黄雪峰;马翼;田达海;彭鹏;杨万云;向平;周士兵 申请(专利权)人: 湖南国科微电子股份有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 卢宏;王娟
地址: 410131 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 支持 通道 主控 并发 ce nand flash 模型 构建 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及存储介质,具体为一种支持多通道主控并发的CENANDFlash的页模 型构建方法及页模型。

背景技术

现有的存储介质空间需求越来越大,要求运行速度越来越快,多通道主控与多CE 的存储介质的出现是时代的必然。在多通道并发情况下,NANDFlash的擦除、编程、读操并 非瞬间就完成了,都需要一定的时间,而现有技术是先处理完一个通道的读、写、擦操作后, 再处理下一个通道的读、写、擦操作,浪费了处理过程中的等待时间,降低了主控的吞吐量 和存储设备的读写速度。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是,针对现有技术不足,提供一种支持多通道主控并 发的CENANDFlash的页模型构建方法及页模型。

为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案是:一种支持多通道主控并发的 CENANDFlash的页模型构建方法,利用下述关系式构建页模型:

FPageTempS=FPage/TCC;

FPageTempY=FPage-FPageTempS*TCC;

ACe=FPageTempY/TCh;

ACh=FPageTempY-ACe*TCh;

其中,FPageTempY为中间变量;ACe表示当前操作的片选通道;ACh表示当前操作的通 道;FPageTempS表示当前操作的物理页;FPage为当前操作的逻辑页;TCC为所有通道的片选 通道总数;TCh为通道数量;/表示取商。

本发明还提供了一种利用上述方法构建的支持多通道主控并发的CENANDFlash 的页模型,包括多个通道和多个物理页;每个通道内包括多个片选通道;对于第一物理页, 第一通道的第一片选通道对应的逻辑页、第二通道的第一片选通道对应的逻辑页…第n通 道的第一片选通道对应的逻辑页序号从小到大依次排列,分别为0、1、2…n-1;第一通道的 第二片选通道对应的逻辑页、第二通道的第二片选通道对应的逻辑页…第n通道的第二片 选通道对应的逻辑页序号从小到大依次排列,分别为n、n+1…n+n-1;依此类推,第一物理页 其余所有逻辑页的序号按照上述规则排列;设第一物理页最后一个逻辑页的序号为i,则对 于第二物理页,其所有逻辑页的从序号i+1开始按照上述规则排列;依此类推,确定最后一 个物理页的最后一个逻辑页的序号。

与现有技术相比,本发明所具有的有益效果为:本发明可以对各个通道内的读、 写、擦进行并发处理,同时对各个物理页进行读、写、擦操作,从而大大节省了操作时间,有 效提高了主控的吞吐量和存储设备的读写速度。

附图说明

图1为本发明一实施例并发时序图;

图2为本发明一实施例页模型图。

具体实施方式

NANDFlash的擦除、编程、读操作都不是瞬间就完成了,需要一定的时间,而现有 的操作流程浪费掉了这段时间,本发明旨在利用这段时间。具体的流程是在通道0发生数据 读写擦事件并且还未完成操作的过程中,触发通道1的读写擦事件,同样在通道0和通道1发 生读写擦事件而还未完成的时候再触发下一个通道的读写擦事件,依此类推。图1为本发明 并发处理时的时序图。

图1表示的是有4个通道的主控的并发过程,为了更好的表达并发的过程,这里只 绘出了NANDFlash上的RB(Ready/BusyNANDFlash的引脚,如果RB=0表示NANDFlash busy,RB=1表示NANDFlashready),旨在突出在一个通道的NANDFlash进入读写擦操作的 时间后,其他通道的并发过程。利用该特性,可以提高SSD等存储设备的速度。

利用上面的技术原理,这里建立多通道并发的多CENANDFlash的页模型。

设主控有4通道,一个通道下有4CE,FPage为页模型。

有:TCh(TotalChannel)=4;

TCe(TotalCE)=4;

TCC(TotalChannelCE)=TCh*TCe=16;

则页模型表达式如下:

FPageTempS=FPage/TCC

FPageTempY=FPage-FPageTempS*TCC

ACe=FPageTempY/TCh

ACh=FPageTempY-ACe*TCh

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