[发明专利]一种基于动生涡电流的金属管件电磁无损检测装置

说明书

本发明公开了一种基于动生涡电流的金属管件电磁无损检测装置，包括运送待检测金属管件的运送装置、待检测金属管件从中穿过的直流磁化线圈、磁敏传感器、信号调理电路、采集卡和计算机，磁敏传感器、信号调理电路、采集卡和计算机依次连接，所述磁敏传感器围绕待检测金属管件周向于动生涡电流集中的靠近区或/和离开区布置。待检测金属管件由运送装置运送穿过直流磁化线圈，磁敏传感器拾取管件表面的电磁场变化信号，将电磁场变化信号转化为电信号，电信号经信号调理电路放大、滤波后，由采集卡进行A/D转换，提供给计算机分析处理，得到管件的缺陷信息。本发明能够对金属管件内/外部缺陷进行准确高速的检测，且装置结构简单，制造成本低。

技术领域

本发明涉及无损检测领域，具体涉及一种基于动生涡电流的金属管件电磁无损检测装置，适用于金属管件内/外部缺陷的高速无损检测。

背景技术

目前，金属管件有多种无损检测方法来实现其缺陷的检测，如磁粉检测、渗透检测、超声检测、涡流检测、射线检测、交流场检测、交流电势检测、直流电势检测以及漏磁检测等多种检测方法。

然而，现有的金属管件无损检测方法中，磁粉检测(MPT,1922年美国霍克)及渗透检测(PT,1940美国Magnaflux公司)因磁吸附作用或毛细作用细显原理而需人工手动操作，导致其效率不高；超声检测(UT,1929年俄国Sokolov)存在着激励与检测频率匹配而限制了扫描速度的问题；涡流检测(ECT,1935年德国霍斯特)由于趋附效应而对管件内部缺陷的检测失效；射线检测(RT,1900法国海关)具有辐射性，原则上尽可能减少使用；交流场检测法(ACFM,1980英国石油公司)和交流电势检测法(ACPD,1980英国伦敦大学学院)与涡流检测法一样，因趋附效应而不能检测内部缺陷；直流电势法(DCPD,1991Read和Pfuff)是一种基于缺陷处电压变化原理的探针电回路接触式检测，因接触式磨损而无法实现高速检测，且对表面有绝缘附着物的检测体失效；漏磁检测法(MFL,1923美国Sperry)仅适用于导磁性管件的缺陷检测，从而对有色金属(非导磁性导电体如不锈钢、铜、铝及钛合金等)以及高温黑色金属失效(过居里点而失去磁性)，并且在高速检测时，由于磁化滞后效应导致构件的磁化不足，而无法产生足够强度的漏磁场。上述现有技术的金属管件无损检测方法，都无法实现对金属管件缺陷进行高速检测，不能满足生产的需要。因此，生产实践亟需提供一种可用于对金属管件内/外部缺陷全面进行检测的高速检测方法。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的是提供一种基于动生涡电流的金属管件电磁无损检测装置，以实现金属管件内/外部缺陷的高速检测要求。

为实现上述目的，本发明采取了以下技术方案：

本发明提供的基于动生涡电流的金属管件电磁无损检测装置，其构成包括运送待检测金属管件的运送装置、待检测金属管件从中穿过的直流磁化线圈、磁敏传感器、信号调理电路、采集卡和计算机，磁敏传感器、信号调理电路、采集卡和计算机依次连接，所述磁敏传感器围绕待检测金属管件周向于动生涡电流集中的靠近区或/和离开区内布置，检测装置运行时，待检测金属管件由运送装置运送穿过直流磁化线圈，磁敏传感器拾取管件表面的电磁场变化，将电磁场变化转化为电信号，电信号经信号调理电路放大、滤波后，由采集卡进行A/D转换，提供给计算机进行分析处理，得到管件的缺陷信息。

在本发明的上述技术方案中，所述磁敏传感器优先考虑分别设置在直流磁化线圈两侧动生涡电流集中的靠近区和离开区内，且沿待检测金属管件周向均匀阵列布置。进一步地，所述阵列布置的磁敏传感器可通过支架设置在直流磁化线圈上。

在本发明的上述技术方案中，所述磁敏传感器的端面与待检测金属管件表面之间的距离一般大于2.0mm；最好控制在0.5mm～1.0mm范围。

在本发明的上述技术方案中，所述运送装置，最好使其运送的待检测金属管件与直流磁化线圈同轴地穿过直流磁化线圈。