[发明专利]一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法有效

专利信息
申请号: 201610083946.8 申请日: 2016-02-06
公开(公告)号: CN107044980B 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 钱森;夏经铠;衡月昆;李楠 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 王卫忠;姜燕
地址: 100049 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 大面积 pmt 耦合 扫描 测试 装置 方法
【说明书】:

发明公开一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法,装置主要用于对PMT的均匀性进行扫描测试,包括旋转平台以及光耦合装置;PMT可转动地安装于旋转平台上,旋转平台能驱动PMT旋转;光耦合装置包括一光源、多个导光件、一导光架及一驱动装置,各导光件的接收端通过光接头固定于导光架;驱动装置驱动导光架或光源移动,以带动光源可选择性光连接各导光件的接收端;各导光件的输出端安装有光接头,各输出端光接头顺PMT的表面间隔布置,输出端光接头顺一第一周面方向排布,PMT旋转中,PMT外表面顺一第二周面方向旋转,第一周面方向与第二周面方向相交;且多个导光件出光方向对齐PMT的表面法线。尤其适用于大面积的PMT的扫描测试。

技术领域

本发明总体来说涉及光电器件的扫描测试技术,具体而言,涉及一种成本低且性能稳定的大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法。

背景技术

在核电子学与核探测器领域,进行高能物理实验、核电子学与核探测器研制过程中,会使用大量的大型光电器件,例如大面积光电倍增管(简称PMT)。虽然对于小型的光电倍增管,由于其有效面积有限,在使用中一般不考虑其有效面积的均匀性。但是很多测试表明,无论是平面的光阴极还是球面的光阴极,由于没有采用转移阴极系统进行光阴极的制备,所以其光阴极的均匀性,受到锑球排布位置和光阴极制备工艺的限制,不可能做得非常均匀。由此,光阴极的均匀性也是衡量评价光阴极性能好坏的一个关键参数。

现有技术中,对于小面积的球型端窗的光电倍增管PMT,其表面均匀性的扫描测试,可以通过简单三维旋转扫描平台来实现。如图1A及图1B所示,图1A及图1B为现有技术中的PMT扫描测试装置的示意图。可以将光源61固定在立架上,通过两个旋转台控制被测PMT进行旋转,测试得到其均匀性。具体做法如下:

例如先将一个8吋的PMT水平安装固定到一个竖直旋转平台62上,通过这个竖直旋转台62实现PMT绕一水平轴线的转动,可以实现被测PMT围绕其中心轴实现纬线圈的旋转,对应于基本不动的光源,可以做到同一纬线圈内不同点的线扫面测试。即这个旋转台62每旋转一个角度后停止,等光源驱动PMT发生光电转换后产生光电信号,然后通过相关的电子学系统获取电脉冲信号,完成单点测试。PMT在旋转台的控制下旋转一周,完成单一纬线的数据扫描测试。

将上述PMT和这个竖直旋转台62,再整体安装到一个水平旋转台63,该水平旋转台63围绕一垂向轴线旋转,可通过水平旋转台63带动竖直旋转台62和被测的PMT围绕垂向轴线转动一个角度,使被测PMT对应这个固定不变的光源的位置发生变化,而光源61照射到被测PMT上的具体纬度发生变化,由此光源61照射另外一个纬度,进而通过旋转竖直旋转台62,完成这个纬度线圈对应的纬线扫描测试。

重复上述步骤,可以实现对8吋球形样管的均匀性扫描,其扫描测试的结果如图2A及图2B所示。

而对于小型平面端窗的光电倍增管PMT,其表面均匀性的扫描测试,可以通过简单的二维扫描平台来实现。通过X轴(水平轴线)和Y轴(垂直轴线)两维平动,来实现对平面均匀性的扫描测试。可以是固定光源,平动待测PMT样管;也可以是固定待测样管,平动光源,进行扫描可得出测试结果如图2C所示。

若该光电倍增管表面曲率半径与此处表面到水平旋转台63轴心的距离不同(通常是不同的),竖直旋转台62转动而进行纬度位置变化时,将会导致光源61到PMT表面的距离和入光角度不同,这需要手动调整光源61的位置与角度,通常是拆装后再重新安装,之后再通过精确测量进行定位。而这种操作难免出现距离和入光角的误差,由于是高精度的光电倍增管,测试光线可能会控制在单光子级,这种误差将导致各纬度测试数据依据的条件有实质区别,将直接影响光阴极的均匀性判读。

并且,对于更大面积的大型球形或者椭球形PMT,由于其质量和体积较大,使得使用如图1A、图1B所示方案扫描测试此款大面积均匀性的可能性较低。不但待测样管质量较大,其大体积对应的大体积的安装平台和配重,将会超出一般旋转平台的承重条件,使得旋转平台不能正常工作或者被损坏。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所,未经中国科学院高能物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610083946.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top