[发明专利]红外辐射测量仪响应曲线标定装置及方法有效

专利信息
申请号: 201610079578.X 申请日: 2016-02-03
公开(公告)号: CN105509900B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 姜志富 申请(专利权)人: 姜志富
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 冯倩
地址: 732750 甘肃省酒泉*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 红外 辐射 测量仪 响应 曲线 标定 装置 方法
【说明书】:

发明实施例提供了一种红外辐射测量仪响应曲线标定装置及方法,改善了现有技术中不能很好地解决仪器低端响应标定的问题。该红外辐射测量仪响应曲线标定装置,应用于红外辐射测量仪,所述红外辐射测量仪包括镜头镜筒,所述装置包括支架、反射镜、黑体和光阑;所述支架一端安装于所述镜头镜筒上、另一端与所述反射镜相连,所述黑体设于与所述红外辐射测量仪相邻位置处;所述光阑设于所述黑体与所述反射镜之间,所述黑体的辐射光经所述光阑射向所述反射镜并经所述反射镜反射后进入所述镜头镜筒中。使用该红外辐射测量仪响应曲线标定装置及方法,可以实现仪器低端响应标定,实施方便,易于推广应用。

技术领域

本发明涉及标定技术领域,具体而言,涉及一种红外辐射测量仪响应曲线标定装置及方法。

背景技术

红外辐射标定是红外辐射测量中的关键一环,直接影响红外辐射测量精度。目前,外场使用的大口径红外辐射测量仪通常使用直接或通过平行光管对不同温度的标准黑体的测量,实现仪器响应的标定。

大口径红外辐射测量仪在低于环境温度的辐射强度响应曲线部分,通常使用较高温度黑体辐射标定的响应曲线线性外推获得,对于红外辐射测量仪,通常在低端和高端响应曲线线性度不好,此区间内线性外推会带来较大误差,而实际测量中,通常是在天空背景上检出目标,即对稍高于天空背景的辐射就要求能够进行精确的辐射测量,所以设备低端响应标定更显得格外重要。

由于大口径黑体和平行光管成本较高,特别是低于环境温度工作的低温黑体,升降温时间长,使用条件苛刻,外场使用存在诸多限制,不能很好解决仪器低端响应标定问题。

发明内容

有鉴于此,本发明实施例的目的在于提供一种红外辐射测量仪响应曲线标定装置及方法,以改善现有技术中的标定方式不能很好解决仪器低端响应标定的问题。

为了实现上述目的,本发明实施例采用的技术方案如下:

第一方面,本发明实施例提供了一种应用于红外辐射测量仪,所述红外辐射测量仪包括镜头镜筒,所述装置包括支架、反射镜、黑体和光阑;

所述支架一端安装于所述镜头镜筒上、另一端与所述反射镜相连,所述黑体设于与所述红外辐射测量仪相邻位置处;

所述光阑设于所述黑体与所述反射镜之间,所述黑体的辐射光经所述光阑射向所述反射镜并经所述反射镜反射后进入所述镜头镜筒中。

结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中,所述反射镜与所述支架活动连接,所述反射镜能沿所述支架调整角度。

结合第一方面,或第一方面的第一种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中,所述反射镜与所述支架可拆卸式连接或所述支架与所述镜头镜筒可拆卸式连接。

结合第一方面的第二种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式,其中,所述黑体为高温黑体。

结合第一方面的第二种可能的实施方式,本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式,其中,所述反射镜为小口径平面全反射镜或小口径曲面全反射镜。

第二方面,本发明实施例提供了一种红外辐射测量仪响应曲线标定方法,应用于红外辐射测量仪响应曲线标定装置,所述装置应用于红外辐射测量仪,所述红外辐射测量仪包括镜头镜筒,所述装置包括支架、反射镜、黑体和光阑;所述支架一端安装于所述镜头镜筒上、另一端与所述反射镜相连,所述黑体设于与所述红外辐射测量仪相邻位置处;所述光阑设于所述黑体与所述反射镜之间,所述黑体的辐射光经所述光阑射向所述反射镜并经所述反射镜反射后进入所述镜头镜筒中,所述方法包括:

调整所述反射镜和所述黑体的工作角度,在所述红外辐射测量仪瞄准所述黑体时固定所述反射镜和所述黑体;

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