[发明专利]一种非标准PCIe3.0接口测试方法与系统在审
| 申请号： | 201610077603.0 | 申请日： | 2016-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN105743737A | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | 廖祺;张柯柯;龚艳鸿 | 申请（专利权）人： | 浪潮（北京）电子信息产业有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 非标准 pcie3 接口 测试 方法 系统 | ||
1.一种非标准PCIe3.0接口测试方法，其特征在于，包括：
分别对待测主板PCIe3.0接口进行发射性能测试和接收性能测试；
当所述发射性能测试与所述接收性能测试均通过时，确定所述待测主板PCIe3.0接口通过测试；
对待测主板PCIe3.0接口进行发射性能测试包括：
获取所述待测主板PCIe3.0接口的存储波形；
根据所述存储波形分析发射信号和参考时钟信号，得到眼图；
根据所述眼图判断是否通过发射性能测试；
对待测主板PCIe3.0接口进行接收性能测试包括：
令CPU进入Loopback模式；
向所述CPU的接收信号中加入预设抖动信号；
获取所述CPU的发射端的发射信号；
根据所述CPU的发射信号与所述CPU的接收信号计算误码率，判断所述误码率是否小于预设误码率阈值，如果是则确定通过接收性能测试。
2.根据权利要求1所述的非标准PCIe3.0接口测试方法，其特征在于，确定所述待测主板PCIe3.0接口通过测试后还包括：
对非标准PCIe3.0插卡进行测试。
3.根据权利要求2所述的非标准PCIe3.0接口测试方法，其特征在于，对非标准PCIe3.0插卡进行测试包括：
获取非标准测试夹具的S参数与所述非标准PCIe3.0插卡的S参数；
判断所述非标准PCIe3.0插卡的S参数是否大于所述非标准测试夹具的S参数，如果是，则确定所述非标准PCIe3.0插卡通过测试。
4.根据权利要求3所述的非标准PCIe3.0接口测试方法，其特征在于，所述S参数包括插入损耗和回波损耗。
5.一种非标准PCIe3.0接口测试系统，其特征在于，包括：
主板测试模块，用于分别对待测主板PCIe3.0接口进行发射性能测试和接收性能测试；
判断模块，用于当所述发射性能测试与所述接收性能测试均通过时，确定所述待测主板PCIe3.0接口通过测试；
所述主板测试模块包括发射性能测试子模块和接收性能测试子模块；
所述发射性能测试子模块用于：
获取所述待测主板PCIe3.0接口的存储波形；
根据所述存储波形分析发射信号和参考时钟信号，得到眼图；
根据所述眼图判断是否通过发射性能测试；
所述接收性能测试子模块用于：
令CPU进入Loopback模式；
向所述CPU的接收信号中加入预设抖动信号；
获取所述CPU的发射端的发射信号；
根据所述CPU的发射信号与所述CPU的接收信号计算误码率，判断所述误码率是否小于预设误码率阈值，如果是则确定通过接收性能测试。
6.根据权利要求5所述的非标准PCIe3.0接口测试系统，其特征在于，还包括：
插卡测试模块，用于对非标准PCIe3.0插卡进行测试。
7.根据权利要求6所述的非标准PCIe3.0接口测试系统，其特征在于，所述插卡测试模块具体用于：
获取非标准测试夹具的S参数与所述非标准PCIe3.0插卡的S参数；
判断所述非标准PCIe3.0插卡的S参数是否大于所述非标准测试夹具的S参数，如果是，则确定所述非标准PCIe3.0插卡通过测试。
8.根据权利要求7所述的非标准PCIe3.0接口测试系统，其特征在于，所述S参数包括插入损耗和回波损耗。
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