[发明专利]一种表征水稻生长状态的水稻叶片NDVI拟合模型的构建方法有效

专利信息
申请号: 201610066248.7 申请日: 2016-01-25
公开(公告)号: CN105760654B 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: 许童羽;于丰华;陈春玲;曹英丽;周云成;郑伟 申请(专利权)人: 沈阳农业大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 110866 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 表征 水稻 生长 状态 叶片 ndvi 拟合 模型 构建 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于NDVI模型表征水稻生长状态的方法,包括以下步骤:分别获取水稻底部、水稻中部、水稻冠层和水稻生长环境各自的最高温度和最低温度,获取水稻底部、水稻中部、水稻冠层和水稻生长环境各自的最高相对湿度和最低相对湿度;获取水稻叶片NDVI;获取水稻冠层NDVI;获取水稻叶片接受日照的日照小时数和水稻生长天数;利用SPSS软件的多元回归分析方法,对上述数据进行分析,获得表征水稻生长状态的NDVI拟合模型。通过本发明的方法能够准确的估计水稻叶片分蘖期、水稻叶片拔节孕穗期、水稻叶片抽穗灌浆期和水稻叶片成熟期的生长状态,为科学评估水稻健康状况的模型研究奠定了基础。

技术领域

本发明属于作物生长信息监测技术领域,具体涉及一种表征水稻生长状态的水稻叶片NDVI拟合模型的构建方法。

背景技术

归一化植被指数(NDVI)能够反映植被生长状态和植被覆盖度,水稻叶片作为水稻生长过程中最为重要的一个生理结构,对水稻产量具有重要影响。研究水稻叶片NDVI的变化并构建相应的NDVI模型,能够快速准确的判断水稻叶片的生长状态,对于早期病虫害的识别具有重要意义。

现有技术中,采用遥感的手段够获得的水稻冠层NDVI,并不能获取水稻叶片NDVI,因此无法准确的估计水稻叶片的生长状态,进而无法准确的估计水稻的生长状态。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于水稻叶片NDVI拟合模型表征水稻生长状态的方法,解决了现有技术中采用遥感获得的水稻冠层NDVI,无法准确的估计水稻的生长状态的问题。

本发明提供的一种表征水稻生长状态的水稻叶片NDVI拟合模型的构建方法,包括以下步骤:

在分蘖期、拔节孕穗期、抽穗灌浆期和成熟期,每天获取水稻底部、水稻中部、水稻冠层和水稻生长环境各自的最高温度、最低温度、最高相对湿度和最低相对湿度;

在分蘖期、拔节孕穗期、抽穗灌浆期和成熟期,每天获取水稻叶片NDVI;

在分蘖期、拔节孕穗期、抽穗灌浆期和成熟期,每天获取水稻冠层NDVI;

在分蘖期、拔节孕穗期、抽穗灌浆期和成熟期,每天获取水稻叶片接受日照的日照小时数和水稻生长天数;

以所述水稻底部、水稻中部、水稻冠层和水稻生长环境各自的最高温度和最低温度、最高相对湿度和最低相对湿度,所述水稻叶片NDVI,所述水稻冠层NDVI,以及所述水稻叶片接受日照的日照小时数和水稻生长天数为对象,利用SPSS软件进行多元回归分析,获得表征水稻生长状态的水稻叶片NDVI拟合模型。

优选的,所述水稻底部、水稻中部、水稻冠层和水稻生长环境各自的最高温度、最低温度、最高相对湿度和最低相对湿度,按照以下步骤获取:

在水稻田内部选取若干个采样点;

在每个采样点内,每隔10min~15min获取一次水稻底部、水稻中部、水稻冠层和水稻生长环境各自的温度和相对湿度,通过对比,获得一天中水稻底部、水稻中部、水稻冠层和水稻生长环境各自的初始最高温度、初始最低温度、初始最高相对湿度和初始最低相对湿度;

分别计算所有采样点的初始最高温度的平均值、初始最低温度的平均值、初始最高相对湿度的平均值和初始最低相对湿度的平均值,获得水稻底部、水稻中部、水稻冠层和水稻生长环境各自的最高温度、最低温度、最高相对湿度和最低相对湿度。

优选的,所述水稻叶片NDVI按照以下步骤获取:

以所述采样点内所有叶片为采样对象,获取每个叶片的叶尖、叶中和叶尾的NDVI,并计算叶尖、叶中和叶尾的NDVI的平均值,获得每个叶片的单叶片NDVI;

计算所述采样点内所有叶片的单叶片NDVI的平均值,获得每个采样点的单点NDVI;

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